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光學(xué)測量儀產(chǎn)品及廠家

美國OAI太陽能模擬器
tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美國oai太陽能模擬器,這些模擬器,取決于配置、輸出額定350 w -5000 w。oai 3 a太陽模擬器可以提供一個(gè)范圍的空氣質(zhì)量過濾器復(fù)制太陽能模擬太陽的光譜。目的探明oai透鏡和鏡像技術(shù)可以使一個(gè)廣泛的接觸區(qū)域。
更新時(shí)間:2025-07-09
美國 D&S 發(fā)射率測量儀
美國 d&s 發(fā)射率測量儀 ae1/rd1,是專門針對測量物體的輻射率設(shè)計(jì)的,ae1測量樣品最小直徑為2.25英寸(5.7cm)?蛇x附件ae-ad1和ae-ad3探測頭能使測量樣品最小直徑為1.0英(2.54cm),可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對小直徑圓柱形面樣品測量,可以測量平行放置的多個(gè)樣品。
更新時(shí)間:2025-07-09
美國SONIX 晶圓檢測設(shè)備
美國sonix 晶圓檢測設(shè)備 autowafe pro.為全自動晶圓檢測設(shè)計(jì)的機(jī)型,主要應(yīng)用在bond wafer,mems 內(nèi)部空洞、離層檢測,tsv量測方面。
更新時(shí)間:2025-07-09
臺式薄膜探針反射儀
ftpadv 臺式薄膜探針反射儀臺式薄膜探針反射儀ftpadv,ftpadv是一種具有成本效益的臺式反射膜厚儀解決方案,它具有非?焖俚暮穸葴y量。在100毫秒以內(nèi)進(jìn)行測量,其精度低于0.3nm,膜厚范圍在50 nm -25 μm。為了便于分光反射測量操作,該儀器包括了范圍廣泛的預(yù)定配方。
更新時(shí)間:2025-07-09
綜合薄膜測量軟件
ftpadv expert 綜合薄膜測量軟件,光譜反射測量軟件ftpadv expert是專門為測量和分析r(λ)和t(λ)而設(shè)計(jì)的。用于確定各種材料的薄膜厚度、消光系數(shù)或折射率的光譜數(shù)據(jù)分析,這些參數(shù)都被加載到sentech光譜反射測量軟件中,使得能夠根據(jù)cauchy色散、drude振蕩給出的參數(shù)描述和擬合材料。
更新時(shí)間:2025-07-09
光伏測量儀器
mdpinline 光伏測量儀器,一秒內(nèi)完成正片晶片掃描。mdpinline是為高速自動掃描硅晶片而設(shè)計(jì)的,它以每片不到一秒的時(shí)間記錄少子壽命的全部形貌。利用微波檢測光電導(dǎo)率定量測量少子壽命。憑借其緊湊的設(shè)計(jì),mdpinline可以靈活地集成在傳送帶上或晶片分選系統(tǒng)中。
更新時(shí)間:2025-07-09
光伏測量儀器
mdpinline ingot 光伏測量儀器,多晶形貌少子壽命測量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設(shè)計(jì)的。對于一個(gè)面,以1毫米的分辨率,無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費(fèi)不到一分鐘。電阻率和導(dǎo)電類型變化的自動掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測爐子性能。面可以自動轉(zhuǎn)動,以便測量所有的四個(gè)側(cè)面。
更新時(shí)間:2025-07-09
在線壽命和電阻率逐行掃描儀
mdpinline ingot 光伏測量儀器,多晶形貌少子壽命測量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設(shè)計(jì)的。對于一個(gè)面,以1毫米的分辨率,無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費(fèi)不到一分鐘。電阻率和導(dǎo)電類型變化的自動掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測爐子性能。面可以自動轉(zhuǎn)動,以便測量所有的四個(gè)側(cè)面。
更新時(shí)間:2025-07-09
德國Sentech激動掃描系統(tǒng)
德國sentech激動掃描系統(tǒng)mdppro,少子壽命測量儀器的特征在于以1mm分辨率對500mm的一個(gè)面在不到4分鐘內(nèi)完成掃描。電阻率和少子壽命的測量完全無觸摸。利用微波檢測光電導(dǎo)率(mdp)同時(shí)測量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和p/n導(dǎo)電類型的變化。
更新時(shí)間:2025-07-09
自動掃描薄膜測量儀器
sensol是sentech光伏產(chǎn)品組合中的自動大面積掃描儀器。自動表征膜厚、薄層電阻、霧度、反射和透射的均勻性。使用sensol,可以監(jiān)測大型玻璃基板上的沉積過程的均勻性,從而可以顯著減少儀器維護(hù)后重新開始生產(chǎn)的時(shí)間。
更新時(shí)間:2025-07-09
德國Sentech光伏測量儀
senperc pv 是perc電池制造質(zhì)量控制的創(chuàng)新解決方案。senperc pv 測量al2o3/sinx堆疊層和用于鈍化perc電池的單層膜。監(jiān)測沉積過程的穩(wěn)定性。由此,可以優(yōu)化維護(hù)時(shí)間間隔。
更新時(shí)間:2025-07-09
德國Sentech光伏測量儀器
德國sentech光伏測量儀器mdpspot,具有成本效益的臺式少子壽命測試儀mdpspot可用于表征晶片或面。它為少子壽命測量提供了一個(gè)測量點(diǎn)。 低成本桌面式壽命測量系統(tǒng),用于手動操作表征不同制備階段的各種不同硅樣品?蛇x的手動操作z軸用于厚度多達(dá)156毫米的樣品。標(biāo)準(zhǔn)軟件可輸出可視化的測量結(jié)果。
更新時(shí)間:2025-07-09
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測系統(tǒng)
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測系統(tǒng) rt inline 反射率、透射率和膜厚的高速在線測量是rt inline的設(shè)計(jì)特點(diǎn)。傳感器頭陣列掃描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射,作為內(nèi)部參考測量。利用ftpadv expert軟件可以方便地進(jìn)行層沉積過程的在線監(jiān)測。軟件接口可用于與主機(jī)的數(shù)據(jù)通信。
更新時(shí)間:2025-07-09
ALD實(shí)時(shí)監(jiān)測儀
sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測儀是一種新型的光學(xué)診斷工具,是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率,厚度,折射率),在短時(shí)間內(nèi)開發(fā)新工藝、實(shí)時(shí)研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機(jī)理是sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測儀的主要應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-07-09
3dAOI光學(xué)檢測設(shè)備
pslm pmp 可編程相位輪廓調(diào)制測量技術(shù)華南區(qū)銷售總監(jiān):鄒丁山◆ 四/八向投射同步結(jié)構(gòu)光技術(shù)
更新時(shí)間:2025-07-09
aoi自動光學(xué)檢測機(jī)
pslm pmp 可編程相位輪廓調(diào)制測量技術(shù)華南區(qū)銷售總監(jiān):鄒丁山◆ 四/八向投射同步結(jié)構(gòu)光技術(shù)
更新時(shí)間:2025-07-09
德國NETZSCH差示掃描量熱儀
差示掃描量熱儀dsc 300 ,是全面、可靠的dsc儀器系列,表征材料熱性能游刃有余。
更新時(shí)間:2025-07-09
德國NETZSCH 閃射法導(dǎo)熱儀
lfa 467 hyperflash 閃射法導(dǎo)熱儀,自由選擇測試氣氛,優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)置與閃射光源,16位自動進(jìn)樣器,高的測量效率,寬廣的溫度范圍,靈活配備冷卻系統(tǒng),設(shè)計(jì)獨(dú)特,性能優(yōu)異,配備氙燈光源的,高溫測試系統(tǒng),寬廣的溫度范圍,真空密閉爐體,確保氣氛純凈,防止氧化,內(nèi)置微型管式爐,更高的測量效率,高數(shù)據(jù)采集速率- 用于薄膜與高導(dǎo)熱材料的解決方案
更新時(shí)間:2025-07-09
OAI UV METER
oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
更新時(shí)間:2025-07-09
日本理學(xué)X射線衍射儀
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200, 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測角儀,用于氮化鎵(gan)質(zhì)量管理,可對應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析(xrd)系統(tǒng)
更新時(shí)間:2025-07-09
日本理學(xué)X射線衍射儀
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200, 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測角儀,用于氮化鎵(gan)質(zhì)量管理,可對應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析(xrd)系統(tǒng)
更新時(shí)間:2025-07-09
布魯克Bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀
布魯克bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀 contour x, 滿足微納米表面測量需要
更新時(shí)間:2025-07-09
布魯克Bruker 三維光學(xué)輪廓儀
布魯克bruker contourx-200 三維光學(xué)輪廓儀,靈活的臺式表面形貌測量設(shè)備
更新時(shí)間:2025-07-09
布魯克臺階儀-探針式表面輪廓儀
布魯克 dektakxt 臺階儀(探針式表面輪廓儀)設(shè)計(jì)創(chuàng)新,實(shí)現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率,垂直高度重復(fù)性高達(dá) 5å。第十代 dektakxt臺階儀(探針式表面輪廓儀)的技術(shù)突破,實(shí)現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量,從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件,半導(dǎo)體,電池,高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學(xué)域。
更新時(shí)間:2025-07-09
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41b,可檢測光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.1um 的顆粒。
更新時(shí)間:2025-07-09
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f,寬廣的測試范圍,可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-07-09
美AZ太陽能吸收率發(fā)射率測量儀
美az 總輻射度/太陽能吸收率(tesa)便攜式反射計(jì) tesa 2000,根據(jù)astm e408測定熱發(fā)射率和空氣質(zhì)量為零時(shí)的太陽吸收率(空間應(yīng)用)。它緊湊,輕巧,堅(jiān)固耐用,符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì),便于在野外或?qū)嶒?yàn)室中使用。
更新時(shí)間:2025-07-09
日本RION氣體粒子計(jì)數(shù)器
日本rion氣體粒子計(jì)數(shù)器:kl-28b/28bf( 光散射法),粒徑范圍(2個(gè)通道):≥0.2μm, ≥0.5μm, 大粒子數(shù)濃度:1 200 顆/l (誤差值低于5%)
更新時(shí)間:2025-07-09
日本RION 液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀:ks-16/16f ( 光散射法), 大粒子數(shù)濃度:1 200 顆/l (誤差值低于5%), 粒徑范圍(5個(gè)通道):≥0.1μm, ≥0.15μm , ≥0.2μm , ≥0.3μm, ≥0.5μm
更新時(shí)間:2025-07-09
日本RION 液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀:ks-17b ( 光散射法),純水用,大粒子數(shù)濃度:100 000 顆/ml (誤差值低于5%),粒徑范圍(2個(gè)通道):≥0.05μm, ≥0.1μm (4通道需工廠定制)
更新時(shí)間:2025-07-09
日本理音RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本理音rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f,寬廣的測試范圍,可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-07-09
日本RION粒子計(jì)數(shù)器
日本rion粒子計(jì)數(shù)器kc-24 ( 光散射法),液體粒子計(jì)數(shù)器,可檢測從純水到氫氟酸各種各樣的液體?蓽y 0.1um 空氣顆粒度儀kc-24
更新時(shí)間:2025-07-09
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41a ( 光阻用),可檢測光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.15um 的顆粒。粒徑范圍(4個(gè)通道,出廠默認(rèn)):≥0.15μm, ≥0.2μm , ≥0.3μm , ≥0.5μm
更新時(shí)間:2025-07-09
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀:ks-18f ( 光散射法)液體光學(xué)顆粒度儀 ks-18f寬廣的測試范圍,可測試 0.05~0.2um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。 可偵測到小粒徑 0.05um 的粒子
更新時(shí)間:2025-07-09
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42a&42af ( 光散射法),可測試 0.1~0.5um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-07-09
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42b/42bf ( 光散射法),寬廣的測試范圍,可測試 0.2~2.0um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-07-09
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42c ( 光散射法),寬廣的測試范圍,可測試 0.5~20um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-07-09
日本理音RION粒子計(jì)數(shù)器
日本理音 rion 粒子計(jì)數(shù)器 ks-20f,檢測粒徑為0.02μm的顆粒,從0.02μm到0.08μm可達(dá)7個(gè)通道
更新時(shí)間:2025-07-09
日本理音RION粒子計(jì)數(shù)器
日本rion粒子計(jì)數(shù)器kc-01e ( 光散射法),液體粒子計(jì)數(shù)器,測試粒徑(5個(gè)通道):≥0.3μm, ≥0.5μm , ≥1μm , ≥2μm, ≥5μm
更新時(shí)間:2025-07-09
日本理音RION粒子計(jì)數(shù)器
日本rion粒子計(jì)數(shù)器kc-03b ( 光散射法),測試粒徑(5個(gè)通道):≥0.3μm, ≥0.5μm , ≥1μm , ≥2μm, ≥5μm
更新時(shí)間:2025-07-09
FPD-VIS-300快速光學(xué)檢測器
fpd-vis-300 是一種快速光學(xué)檢測器,用于可視化和測量 320 nm 至 1100 nm 光譜范圍內(nèi)的激光束的時(shí)間特性。它具有硅 pin 光電二管,旨在將光信號轉(zhuǎn)換為電信號,然后使用示波器或頻譜分析儀等第三方測量儀器進(jìn)行測量。fpd-vis-300 的上升時(shí)間為 300 皮。其反向偏置電壓由內(nèi)部電池提供。
更新時(shí)間:2025-07-09
FPD-IG-175光學(xué)檢測器
fpd-ig-175 是一款快速光學(xué)檢測器,用于可視化和測量 900 nm 至 1700 nm 光譜范圍內(nèi)的激光束的時(shí)間特性。它有一個(gè) ingaas pin 光電二管,旨在將光信號轉(zhuǎn)換為電信號,然后使用示波器或頻譜分析儀等第三方測量儀器進(jìn)行測量。fpd-ig-175 的上升時(shí)間為 175 皮。其反向偏置電壓由內(nèi)部電池提供。
更新時(shí)間:2025-07-09
FPD-IG-25光學(xué)檢測器
fpd-ig-25 是一種快速光學(xué)檢測器,用于可視化和測量 900 nm 至 1700 nm 光譜范圍內(nèi)的激光束的時(shí)間特性。它有一個(gè) ingaas pin 光電二管,旨在將光信號轉(zhuǎn)換為電信號,然后使用示波器或頻譜分析儀等第三方測量儀器進(jìn)行測量。fpd-ig-25 的上升時(shí)間為 25 皮。其反向偏置電壓由內(nèi)部電池提供。
更新時(shí)間:2025-07-09
BeamWatch Integrated自動激光測量儀
beamwatch integrated自動激光測量儀用于自動化制造的光束表征系統(tǒng) 實(shí)時(shí)自動測量激光功率、焦散和焦點(diǎn)偏移支持單模激光器全自動操作帶有好/壞信號的趨勢分析帶有時(shí)間戳的詳細(xì)報(bào)告無需更改測量系統(tǒng)即可使用不同類型的焊頭堅(jiān)固耐用,適用于工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境輪班操作中頻繁測量的短測量時(shí)間
更新時(shí)間:2025-07-09
MS-ROC多次自相關(guān)儀
ms-roc(multi-shot row optical autocorrelator)使用二階掃描自相關(guān)實(shí)現(xiàn)脈沖寬度測量。它基于邁克爾遜干涉儀和二次諧波生成(shg 自相關(guān))。不同的型號允許分析低至 4 fs 的超短脈沖和 80 ps 的長脈沖,即使對于 pj 和 nj 范圍內(nèi)的低脈沖能量也是如此。高達(dá) 130ps/s 的高掃描速度是實(shí)時(shí)測量的理想選擇。
更新時(shí)間:2025-07-09
MIKS系列脈沖壓縮器
n2-photonics提供的miks系列脈沖壓縮器,可以光譜展寬和時(shí)間壓縮您的脈沖。輸出的脈沖寬度取決于輸入的脈沖寬度。特點(diǎn):全天候穩(wěn)定運(yùn)行;輕松與現(xiàn)有激光系統(tǒng)集成;無有源光學(xué)元件;無機(jī)械移動部件;無需維護(hù)、可在惡劣環(huán)境中運(yùn)行
更新時(shí)間:2025-07-09
德國EMO 紅外觀察鏡/紅外夜視儀
德國emo公司的86600和86910紅外觀察儀選用與7215同款顯像管6914,具有較好的分辨率和靈敏度。是一個(gè)高性能,手持式近紅激光外觀察儀?捎糜诩t外激光光路調(diào)節(jié)、激光器組裝精密小孔對準(zhǔn)、熒光觀察等。
更新時(shí)間:2025-07-09
半球發(fā)射率測量儀 AE1/RD1  美 D&S  現(xiàn)貨 原裝進(jìn)口
半球發(fā)射率測量儀ae1 rd1是用于測量發(fā)射率的用儀器。低溫加熱被測樣品,儀器通過探測器接受樣品材料表面輻射出來的紅外能量后換算出發(fā)射率,根據(jù)設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)體發(fā)射率準(zhǔn)參數(shù),計(jì)算并讀出被測樣品發(fā)射率。
更新時(shí)間:2025-07-09
上海 半球發(fā)射率測量儀 AE1/RD1  美 D&S  現(xiàn)貨 原裝進(jìn)口
半球發(fā)射率測量儀ae1 rd1是用于測量發(fā)射率的用儀器。低溫加熱被測樣品,儀器通過探測器接受樣品材料表面輻射出來的紅外能量后換算出發(fā)射率,根據(jù)設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)體發(fā)射率準(zhǔn)參數(shù),計(jì)算并讀出被測樣品發(fā)射率。
更新時(shí)間:2025-07-09
卡爾費(fèi)休水分儀 CA-310  三菱化學(xué)  現(xiàn)貨  庫倫法/容量法
半球發(fā)射率測量儀ae1 rd1是用于測量發(fā)射率的用儀器。低溫加熱被測樣品,儀器通過探測器接受樣品材料表面輻射出來的紅外能量后換算出發(fā)射率,根據(jù)設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)體發(fā)射率準(zhǔn)參數(shù),計(jì)算并讀出被測樣品發(fā)射率。
更新時(shí)間:2025-07-09

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熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)(PH計(jì)) 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑