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光學測量儀產(chǎn)品及廠家

德國Optosol 涂層吸收率發(fā)射率檢測儀
德國optosol r1 涂層吸收率發(fā)射率檢測儀，用于測量管狀或平面太陽能吸收涂層的定向熱發(fā)射度，其基礎是測量來自擴展熱源的紅外輻射的反射率操作溫度:70 - 90°c
更新時間:2025-07-09
德Optosol太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀
德optosol-k3 太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀，k3型發(fā)射率檢測儀由一個被加熱到70℃的發(fā)光體（作為熱輻射源）和三個對波長在8-14μm范圍的光線敏感的探測器組成。 來自發(fā)光體的輻射均勻分布在用作漫射輻射源的積分球內(nèi)。檢測器以與樣品表面法線成12°的角度安裝。被測量的是由樣品反射回來的輻射。
更新時間:2025-07-09
德國Optosol 太陽能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測量儀
optosol absorber control k1 太陽能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測量儀，
更新時間:2025-07-09
美國OAI標準太陽能模擬器
trisol aaa美國oai標準太陽能模擬器，低成本，標準太陽模擬器提供高度準直，均勻的光，幾乎任何材料或產(chǎn)品暴露在陽光下長時間或短時間的基本測試。根據(jù)配置，這些太陽能模擬器的輸出功率為350w-5,000w。
更新時間:2025-07-09
美國OAI太陽能模擬器
tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美國oai太陽能模擬器，這些模擬器,取決于配置、輸出額定350 w -5000 w。oai 3 a太陽模擬器可以提供一個范圍的空氣質(zhì)量過濾器復制太陽能模擬太陽的光譜。目的探明oai透鏡和鏡像技術可以使一個廣泛的接觸區(qū)域。
更新時間:2025-07-09
美國 D&S 發(fā)射率測量儀
美國 d&s 發(fā)射率測量儀 ae1/rd1，是專門針對測量物體的輻射率設計的，ae1測量樣品最小直徑為2.25英寸（5.7cm）。可選附件ae-ad1和ae-ad3探測頭能使測量樣品最小直徑為1.0英（2.54cm），可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對小直徑圓柱形面樣品測量，可以測量平行放置的多個樣品。
更新時間:2025-07-09
美國SONIX 晶圓檢測設備
美國sonix 晶圓檢測設備 autowafe pro.為全自動晶圓檢測設計的機型，主要應用在bond wafer，mems 內(nèi)部空洞、離層檢測，tsv量測方面。
更新時間:2025-07-09
臺式薄膜探針反射儀
ftpadv 臺式薄膜探針反射儀臺式薄膜探針反射儀ftpadv，ftpadv是一種具有成本效益的臺式反射膜厚儀解決方案，它具有非？焖俚暮穸葴y量。在100毫秒以內(nèi)進行測量，其精度低于0.3nm，膜厚范圍在50 nm -25 μm。為了便于分光反射測量操作，該儀器包括了范圍廣泛的預定配方。
更新時間:2025-07-09
綜合薄膜測量軟件
ftpadv expert 綜合薄膜測量軟件，光譜反射測量軟件ftpadv expert是專門為測量和分析r(λ)和t(λ)而設計的。用于確定各種材料的薄膜厚度、消光系數(shù)或折射率的光譜數(shù)據(jù)分析，這些參數(shù)都被加載到sentech光譜反射測量軟件中，使得能夠根據(jù)cauchy色散、drude振蕩給出的參數(shù)描述和擬合材料。
更新時間:2025-07-09
光伏測量儀器
mdpinline 光伏測量儀器，一秒內(nèi)完成正片晶片掃描。mdpinline是為高速自動掃描硅晶片而設計的，它以每片不到一秒的時間記錄少子壽命的全部形貌。利用微波檢測光電導率定量測量少子壽命。憑借其緊湊的設計，mdpinline可以靈活地集成在傳送帶上或晶片分選系統(tǒng)中。
更新時間:2025-07-09
光伏測量儀器
mdpinline ingot 光伏測量儀器，多晶形貌少子壽命測量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設計的。對于一個面，以1毫米的分辨率，無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費不到一分鐘。電阻率和導電類型變化的自動掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測爐子性能。面可以自動轉(zhuǎn)動，以便測量所有的四個側(cè)面。
更新時間:2025-07-09
在線壽命和電阻率逐行掃描儀
mdpinline ingot 光伏測量儀器，多晶形貌少子壽命測量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設計的。對于一個面，以1毫米的分辨率，無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費不到一分鐘。電阻率和導電類型變化的自動掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測爐子性能。面可以自動轉(zhuǎn)動，以便測量所有的四個側(cè)面。
更新時間:2025-07-09
德國Sentech激動掃描系統(tǒng)
德國sentech激動掃描系統(tǒng)mdppro,少子壽命測量儀器的特征在于以1mm分辨率對500mm的一個面在不到4分鐘內(nèi)完成掃描。電阻率和少子壽命的測量完全無觸摸。利用微波檢測光電導率(mdp)同時測量少子壽命、光電導率、電阻率和p/n導電類型的變化。
更新時間:2025-07-09
自動掃描薄膜測量儀器
sensol是sentech光伏產(chǎn)品組合中的自動大面積掃描儀器。自動表征膜厚、薄層電阻、霧度、反射和透射的均勻性。使用sensol，可以監(jiān)測大型玻璃基板上的沉積過程的均勻性，從而可以顯著減少儀器維護后重新開始生產(chǎn)的時間。
更新時間:2025-07-09
德國Sentech光伏測量儀
senperc pv 是perc電池制造質(zhì)量控制的創(chuàng)新解決方案。senperc pv 測量al2o3/sinx堆疊層和用于鈍化perc電池的單層膜。監(jiān)測沉積過程的穩(wěn)定性。由此，可以優(yōu)化維護時間間隔。
更新時間:2025-07-09
德國Sentech光伏測量儀器
德國sentech光伏測量儀器mdpspot，具有成本效益的臺式少子壽命測試儀mdpspot可用于表征晶片或面。它為少子壽命測量提供了一個測量點。 低成本桌面式壽命測量系統(tǒng)，用于手動操作表征不同制備階段的各種不同硅樣品？蛇x的手動操作z軸用于厚度多達156毫米的樣品。標準軟件可輸出可視化的測量結(jié)果。
更新時間:2025-07-09
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測系統(tǒng)
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測系統(tǒng) rt inline 反射率、透射率和膜厚的高速在線測量是rt inline的設計特點。傳感器頭陣列掃描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射，作為內(nèi)部參考測量。利用ftpadv expert軟件可以方便地進行層沉積過程的在線監(jiān)測。軟件接口可用于與主機的數(shù)據(jù)通信。
更新時間:2025-07-09
ALD實時監(jiān)測儀
sentech ald實時監(jiān)測儀是一種新型的光學診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率，厚度，折射率)，在短時間內(nèi)開發(fā)新工藝、實時研究ald循環(huán)中的反應機理是sentech ald實時監(jiān)測儀的主要應用。
更新時間:2025-07-09
3dAOI光學檢測設備
pslm pmp 可編程相位輪廓調(diào)制測量技術華南區(qū)銷售總監(jiān)：鄒丁山◆ 四/八向投射同步結(jié)構光技術
更新時間:2025-07-09
aoi自動光學檢測機
pslm pmp 可編程相位輪廓調(diào)制測量技術華南區(qū)銷售總監(jiān)：鄒丁山◆ 四/八向投射同步結(jié)構光技術
更新時間:2025-07-09
德國NETZSCH差示掃描量熱儀
差示掃描量熱儀dsc 300 ，是全面、可靠的dsc儀器系列，表征材料熱性能游刃有余。
更新時間:2025-07-09
德國NETZSCH 閃射法導熱儀
lfa 467 hyperflash 閃射法導熱儀，自由選擇測試氣氛，優(yōu)化結(jié)構設置與閃射光源，16位自動進樣器，高的測量效率，寬廣的溫度范圍，靈活配備冷卻系統(tǒng)，設計獨特，性能優(yōu)異，配備氙燈光源的，高溫測試系統(tǒng)，寬廣的溫度范圍，真空密閉爐體，確保氣氛純凈，防止氧化，內(nèi)置微型管式爐，更高的測量效率，高數(shù)據(jù)采集速率- 用于薄膜與高導熱材料的解決方案
更新時間:2025-07-09
OAI UV METER
oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
更新時間:2025-07-09
日本理學X射線衍射儀
日本理學x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學元件可選的高精度測角儀，用于氮化鎵（gan)質(zhì)量管理，可對應大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統(tǒng)
更新時間:2025-07-09
日本理學X射線衍射儀
日本理學x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學元件可選的高精度測角儀，用于氮化鎵（gan)質(zhì)量管理，可對應大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統(tǒng)
更新時間:2025-07-09
布魯克Bruker白光干涉光學輪廓儀
布魯克bruker白光干涉光學輪廓儀 contour x, 滿足微納米表面測量需要
更新時間:2025-07-09
布魯克Bruker 三維光學輪廓儀
布魯克bruker contourx-200 三維光學輪廓儀，靈活的臺式表面形貌測量設備
更新時間:2025-07-09
布魯克臺階儀-探針式表面輪廓儀
布魯克 dektakxt 臺階儀（探針式表面輪廓儀）設計創(chuàng)新，實現(xiàn)了更高的重復性和分辨率，垂直高度重復性高達 5å。第十代 dektakxt臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術突破，實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量，從而可以廣泛的應用于微電子器件，半導體，電池，高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學域。
更新時間:2025-07-09
日本RION液體光學顆粒度儀
日本rion液體光學顆粒度儀ks-41b，可檢測光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.1um 的顆粒。
更新時間:2025-07-09
日本RION液體光學顆粒度儀
日本rion液體光學顆粒度儀ks-19f,寬廣的測試范圍，可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:2025-07-09
美AZ太陽能吸收率發(fā)射率測量儀
美az 總輻射度/太陽能吸收率(tesa)便攜式反射計 tesa 2000，根據(jù)astm e408測定熱發(fā)射率和空氣質(zhì)量為零時的太陽吸收率(空間應用)。它緊湊，輕巧，堅固耐用，符合人體工程學設計，便于在野外或?qū)嶒炇抑惺褂谩?/div> 更新時間:2025-07-09
日本RION氣體粒子計數(shù)器
日本rion氣體粒子計數(shù)器：kl-28b/28bf( 光散射法）,粒徑范圍（2個通道）：≥0.2μm， ≥0.5μm, 大粒子數(shù)濃度：1 200 顆/l （誤差值低于5%）
更新時間:2025-07-09
日本RION 液體光學顆粒度儀
日本rion 液體光學顆粒度儀：ks-16/16f ( 光散射法）, 大粒子數(shù)濃度：1 200 顆/l （誤差值低于5%）, 粒徑范圍（5個通道）：≥0.1μm， ≥0.15μm ， ≥0.2μm ， ≥0.3μm, ≥0.5μm
更新時間:2025-07-09
日本RION 液體光學顆粒度儀
日本rion 液體光學顆粒度儀：ks-17b ( 光散射法）,純水用，大粒子數(shù)濃度：100 000 顆/ml （誤差值低于5%），粒徑范圍（2個通道）：≥0.05μm， ≥0.1μm （4通道需工廠定制）
更新時間:2025-07-09
日本理音RION液體光學顆粒度儀
日本理音rion液體光學顆粒度儀ks-19f，寬廣的測試范圍，可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:2025-07-09
日本RION粒子計數(shù)器
日本rion粒子計數(shù)器kc-24 ( 光散射法）,液體粒子計數(shù)器，可檢測從純水到氫氟酸各種各樣的液體？蓽y 0.1um 空氣顆粒度儀kc-24
更新時間:2025-07-09
日本RION液體光學顆粒度儀
日本rion液體光學顆粒度儀ks-41a ( 光阻用），可檢測光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.15um 的顆粒。粒徑范圍（4個通道，出廠默認）：≥0.15μm， ≥0.2μm ， ≥0.3μm ， ≥0.5μm
更新時間:2025-07-09
日本RION液體光學顆粒度儀
日本rion 液體光學顆粒度儀：ks-18f ( 光散射法）液體光學顆粒度儀 ks-18f寬廣的測試范圍，可測試 0.05~0.2um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數(shù)據(jù)。 可偵測到小粒徑 0.05um 的粒子
更新時間:2025-07-09
日本RION液體光學顆粒度儀
日本rion液體光學顆粒度儀ks-42a&42af ( 光散射法）,可測試 0.1~0.5um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:2025-07-09
日本RION液體光學顆粒度儀
日本rion液體光學顆粒度儀ks-42b/42bf ( 光散射法）,寬廣的測試范圍，可測試 0.2~2.0um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:2025-07-09
日本RION液體光學顆粒度儀
日本rion液體光學顆粒度儀ks-42c ( 光散射法）,寬廣的測試范圍，可測試 0.5~20um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:2025-07-09
日本理音RION粒子計數(shù)器
日本理音 rion 粒子計數(shù)器 ks-20f，檢測粒徑為0.02μm的顆粒，從0.02μm到0.08μm可達7個通道
更新時間:2025-07-09
日本理音RION粒子計數(shù)器
日本rion粒子計數(shù)器kc-01e ( 光散射法）,液體粒子計數(shù)器，測試粒徑（5個通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新時間:2025-07-09
日本理音RION粒子計數(shù)器
日本rion粒子計數(shù)器kc-03b ( 光散射法）,測試粒徑（5個通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新時間:2025-07-09
測量數(shù)顯投影儀
電線電纜測量數(shù)顯投影儀的詳細描述： 電線電纜測量數(shù)顯投影儀主要技術參數(shù)： 1）電線電纜測量數(shù)顯投影儀投影屏面徑：￠300mm，內(nèi)刻式米字線，永不磨損。 2）電線電纜測量數(shù)顯投影儀旋轉(zhuǎn)角度數(shù)顯顯示值：0.01°或者1′
更新時間:2025-07-09
線纜截面測試投影儀，線纜絕緣護套測試儀，線纜檢測投影儀
數(shù)碼管顯示處理器介紹1）點、線、圓、角度、距離、矩形和螺紋等圖形元素的測量、預置和構造2）座標擺正和座標平移，方便擺正工件，減少調(diào)整時間3）三軸的顯示值4）rs232輸出功能（可打。5）多種座標顯示方式，極座標和直角座標、inc座標和abs座標公制和英制6）對光柵尺可進行線性補償或區(qū)段線性補償7）z軸可接光柵尺或旋轉(zhuǎn)編碼器
更新時間:2025-07-09
低倍測量投影儀，線纜光學投影儀，數(shù)字式電纜測量投影儀
低倍測量投影儀，線纜光學投影儀，數(shù)字式電纜測量投影儀被測工件y置于工作臺上,在透射反射照明下,它由物鏡0成放大實像y′(倒像)并經(jīng)光鏡m1與m2反射于投影屏p的磨沙面上。
更新時間:2025-07-09
絕緣護套測量投影儀，電纜外被測量投影儀，300測量投影儀
絕緣護套測量投影儀，電纜外被測量投影儀，300測量投影儀是一種光、機、電一體化的精密高效光學計量儀器。測量投影儀被廣泛應用于機械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計量檢定部門的計量室、試驗室和生產(chǎn)車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時間:2025-07-09
影像測量儀參數(shù)，二次元影像測量儀的價格，二次元測量儀特點
影像測量儀參數(shù)，二次元影像測量儀的價格，二次元測量儀特點主要是彌補了傳統(tǒng)投影儀的不足，采用攝像機將待測物體拍攝成圖像，再傳輸?shù)诫娔X，然后用專業(yè)的影像測量軟件，便能高效檢測各種復雜工件的輪廓、表面形狀尺寸、角度及位置。
更新時間:2025-07-09
線纜檢測測量投影儀，工件輪廓測量投影儀，線纜投影儀的參數(shù)
線纜檢測用投影儀，輪廓檢測投影儀，絕緣護套檢測投影儀被測工件y置于工作臺上,在透射反射照明下,它由物鏡0成放大實像y′(倒像)并經(jīng)光鏡m1與m2反射于投影屏p的磨沙面上。
更新時間:2025-07-09

最新產(chǎn)品

熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計（PH計） 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標準物質(zhì) 生物試劑