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光學(xué)測量儀產(chǎn)品及廠家

深圳鳳鳴亮電池隔膜激光無損在線檢測儀透明薄膜非接觸測厚儀
激光在線測厚儀具有：在線，動(dòng)態(tài)，非接觸，無損傷，高精度的測量功能，可精密測量帶材、卷材、板材的厚度可用于各種金屬制品生產(chǎn)線、塑料膜擠出、透明塑料薄膜,玻璃纖維膜、壓模木板、地毯、pvc、橡膠壓制等生產(chǎn)線。測量不受灰塵、振動(dòng)等外界環(huán)境的影響。對于被測材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和表面是否平整沒有要求。
更新時(shí)間:2025-07-08
深圳鳳鳴亮手機(jī)液晶屏非接觸激光精密測厚儀
激光檢測厚儀具有在線，動(dòng)態(tài)，非接觸，無損傷，高精度，超穩(wěn)定性的測量功能，適用于電池極片，銅箔、鋁箔，冷軋鋼銅鋁板帶，橡膠防水卷材、透明薄膜/紙張，等各種板材的測厚, 用于冶金行業(yè)箔軋、冷軋、平整、酸洗、拉彎矯、剪子等生產(chǎn)線
更新時(shí)間:2025-07-08
鳳鳴亮透明薄膜激光在線測厚儀金屬板帶非接觸檢測機(jī)
鳳鳴亮透明薄膜激光在線測厚儀金屬板帶非接觸檢測機(jī)具有：在線，動(dòng)態(tài)，非接觸，無損傷，高精度的測量功能測量范圍廣泛，可用于各種金屬制品生產(chǎn)線、塑料膜擠出、嵌鑲板、壓模木板、地毯、pvc、橡膠壓制等生產(chǎn)線。透明塑料薄膜
更新時(shí)間:2025-07-08
深圳鳳鳴亮防水卷材激光在線檢測儀鋼銅鋁板帶非接觸測厚儀
深圳鳳鳴亮防水卷材激光在線檢測儀鋼銅鋁板帶非接觸測厚儀具有：在線，動(dòng)態(tài)，非接觸，無損傷，高精度的測量功能測量范圍廣泛，可用于各種金屬制品生產(chǎn)線、塑料膜擠出、嵌鑲板、壓模木板、地毯、pvc、橡膠壓制等生產(chǎn)線。透明塑料薄膜測量不受灰塵、振動(dòng)等外界環(huán)境的影響。對于被測材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和表面是否平整沒有要求。
更新時(shí)間:2025-07-08
鳳鳴亮壓延機(jī)用激光在線測厚儀鋼銅鋁板帶非接觸檢測機(jī)
激光檢測儀具有：在線，動(dòng)態(tài)，非接觸，無損傷，高精度，超穩(wěn)定性的測量功能，適用于電池極片，銅箔、鋁箔，冷軋鋼銅鋁板帶，橡膠防水卷材、透明薄膜/紙張，等各種板材的測厚, 用于冶金行業(yè)箔軋、冷軋、平整、酸洗、拉彎矯、剪子等生產(chǎn)線
更新時(shí)間:2025-07-08
鳳鳴亮碳纖維薄膜無損厚度檢測儀動(dòng)態(tài)激光在線非接觸測厚儀
鳳鳴亮碳纖維薄膜無損厚度檢測儀動(dòng)態(tài)激光在線非接觸測厚儀具有：在線，動(dòng)態(tài)，非接觸，無損傷，高精度，超穩(wěn)定性的測量功能，適用于電池極片，銅箔、鋁箔，冷軋鋼銅鋁板帶，橡膠防水卷材、透明薄膜/碳纖維紙張，等各種板材的測厚
更新時(shí)間:2025-07-08
深圳鳳鳴亮玻璃纖維非接觸在線測厚儀鋼鋁銅板帶厚度激光無損檢測器
ltg-650型在線激光測厚儀可在線動(dòng)態(tài)測量幾乎所有的材料的厚度如: 透明薄膜/玻璃纖維/碳纖維紙張，鋼鋁銅板，電池電極，橡膠、高分子材料、塑料零件。
更新時(shí)間:2025-07-08
動(dòng)態(tài)非接觸激光在線測厚儀
激光檢測儀具有：在線，動(dòng)態(tài)，非接觸，無損傷，高精度，超穩(wěn)定性的測量功能，適用于電池極片，銅箔、鋁箔，冷軋鋼銅鋁板帶，橡膠防水卷材、透明薄膜/紙張，等各種板材的測厚
更新時(shí)間:2025-07-08
在線動(dòng)態(tài)非接觸激光厚度檢測儀
激光測量系統(tǒng)，具有：在線，動(dòng)態(tài)，非接觸，無損傷，高精度的測量功能測量范圍廣泛，可用于各種金屬制品生產(chǎn)線、塑料膜擠出、嵌鑲板、壓模木板、地毯、pvc、橡膠壓制等生產(chǎn)線。透明塑料薄膜，測量不受灰塵、振動(dòng)等外界環(huán)境的影響。對于被測材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和表面是否平整沒有要求。
更新時(shí)間:2025-07-08
布魯克Bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀
布魯克bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀 contour x, 滿足微納米表面測量需要
更新時(shí)間:2025-07-08
布魯克Bruker 三維光學(xué)輪廓儀
布魯克bruker contourx-200 三維光學(xué)輪廓儀，靈活的臺式表面形貌測量設(shè)備
更新時(shí)間:2025-07-08
布魯克臺階儀-探針式表面輪廓儀
布魯克 dektakxt 臺階儀（探針式表面輪廓儀）設(shè)計(jì)創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率，垂直高度重復(fù)性高達(dá) 5å。第十代 dektakxt臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，實(shí)現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學(xué)域。
更新時(shí)間:2025-07-08
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41b，可檢測光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.1um 的顆粒。
更新時(shí)間:2025-07-08
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f,寬廣的測試范圍，可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-07-08
美AZ太陽能吸收率發(fā)射率測量儀
美az 總輻射度/太陽能吸收率(tesa)便攜式反射計(jì) tesa 2000，根據(jù)astm e408測定熱發(fā)射率和空氣質(zhì)量為零時(shí)的太陽吸收率(空間應(yīng)用)。它緊湊，輕巧，堅(jiān)固耐用，符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)，便于在野外或?qū)嶒?yàn)室中使用。
更新時(shí)間:2025-07-08
日本RION氣體粒子計(jì)數(shù)器
日本rion氣體粒子計(jì)數(shù)器：kl-28b/28bf( 光散射法）,粒徑范圍（2個(gè)通道）：≥0.2μm， ≥0.5μm, 大粒子數(shù)濃度：1 200 顆/l （誤差值低于5%）
更新時(shí)間:2025-07-08
日本RION 液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀：ks-16/16f ( 光散射法）, 大粒子數(shù)濃度：1 200 顆/l （誤差值低于5%）, 粒徑范圍（5個(gè)通道）：≥0.1μm， ≥0.15μm ， ≥0.2μm ， ≥0.3μm, ≥0.5μm
更新時(shí)間:2025-07-08
日本RION 液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀：ks-17b ( 光散射法）,純水用，大粒子數(shù)濃度：100 000 顆/ml （誤差值低于5%），粒徑范圍（2個(gè)通道）：≥0.05μm， ≥0.1μm （4通道需工廠定制）
更新時(shí)間:2025-07-08
日本理音RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本理音rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f，寬廣的測試范圍，可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-07-08
日本RION粒子計(jì)數(shù)器
日本rion粒子計(jì)數(shù)器kc-24 ( 光散射法）,液體粒子計(jì)數(shù)器，可檢測從純水到氫氟酸各種各樣的液體？蓽y 0.1um 空氣顆粒度儀kc-24
更新時(shí)間:2025-07-08
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41a ( 光阻用），可檢測光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.15um 的顆粒。粒徑范圍（4個(gè)通道，出廠默認(rèn)）：≥0.15μm， ≥0.2μm ， ≥0.3μm ， ≥0.5μm
更新時(shí)間:2025-07-08
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀：ks-18f ( 光散射法）液體光學(xué)顆粒度儀 ks-18f寬廣的測試范圍，可測試 0.05~0.2um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。 可偵測到小粒徑 0.05um 的粒子
更新時(shí)間:2025-07-08
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42a&42af ( 光散射法）,可測試 0.1~0.5um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-07-08
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42b/42bf ( 光散射法）,寬廣的測試范圍，可測試 0.2~2.0um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-07-08
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42c ( 光散射法）,寬廣的測試范圍，可測試 0.5~20um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-07-08
日本理音RION粒子計(jì)數(shù)器
日本理音 rion 粒子計(jì)數(shù)器 ks-20f，檢測粒徑為0.02μm的顆粒，從0.02μm到0.08μm可達(dá)7個(gè)通道
更新時(shí)間:2025-07-08
日本理音RION粒子計(jì)數(shù)器
日本rion粒子計(jì)數(shù)器kc-01e ( 光散射法）,液體粒子計(jì)數(shù)器，測試粒徑（5個(gè)通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新時(shí)間:2025-07-08
日本理音RION粒子計(jì)數(shù)器
日本rion粒子計(jì)數(shù)器kc-03b ( 光散射法）,測試粒徑（5個(gè)通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新時(shí)間:2025-07-08
德國NETZSCH差示掃描量熱儀
差示掃描量熱儀dsc 300 ，是全面、可靠的dsc儀器系列，表征材料熱性能游刃有余。
更新時(shí)間:2025-07-08
德國NETZSCH 閃射法導(dǎo)熱儀
lfa 467 hyperflash 閃射法導(dǎo)熱儀，自由選擇測試氣氛，優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)置與閃射光源，16位自動(dòng)進(jìn)樣器，高的測量效率，寬廣的溫度范圍，靈活配備冷卻系統(tǒng)，設(shè)計(jì)獨(dú)特，性能優(yōu)異，配備氙燈光源的，高溫測試系統(tǒng)，寬廣的溫度范圍，真空密閉爐體，確保氣氛純凈，防止氧化，內(nèi)置微型管式爐，更高的測量效率，高數(shù)據(jù)采集速率- 用于薄膜與高導(dǎo)熱材料的解決方案
更新時(shí)間:2025-07-08
OAI UV METER
oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
更新時(shí)間:2025-07-08
日本理學(xué)X射線衍射儀
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測角儀，用于氮化鎵（gan)質(zhì)量管理，可對應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統(tǒng)
更新時(shí)間:2025-07-08
日本理學(xué)X射線衍射儀
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測角儀，用于氮化鎵（gan)質(zhì)量管理，可對應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統(tǒng)
更新時(shí)間:2025-07-08
陶瓷插芯測孔儀，光纖陶瓷插芯測孔儀，陶瓷插芯同心度測量儀
測量陶瓷插芯的內(nèi)孔孔徑，外圓直徑，圓度，內(nèi)外圓同心度。陶瓷插芯的圓柱的直線度，平行度
更新時(shí)間:2025-07-08
拉絲模具檢查儀,拉絲模檢測儀,拉絲模缺陷檢查,拉絲模缺陷分析
觀察拉絲模具定徑區(qū)和壓縮區(qū)，出口區(qū)的缺陷及光潔度。本產(chǎn)品改變了傳統(tǒng)用顯微鏡觀察的方式，把要觀察的部位以影像的方式呈現(xiàn)出來，解決視力疲勞問題，方便溝通和顯微鏡使用方法一樣，只是觀察方式的改變。專用模具支架，方便使用。適用于各種類型，各種孔徑的拉絲模具。
更新時(shí)間:2025-07-08
端子檢測顯微鏡，端子測量顯微鏡，端子分析顯微鏡
端子分析儀chd-200是針對線束行業(yè)品質(zhì)檢驗(yàn)而專門研發(fā)的一款精密檢測分析設(shè)備，整套系統(tǒng)由端子切割設(shè)備、研磨設(shè)備、腐蝕清洗、斷面圖像采集系統(tǒng)、線束端子圖片測量分析系統(tǒng)等單元組成，采用人體力學(xué)設(shè)計(jì)，模塊化組合，流水線式工作流程，讓操作更方便、快捷。全套檢測系統(tǒng)可在5分鐘內(nèi)完成一個(gè)端子的處理分析，極大地提高了端子斷面品質(zhì)檢驗(yàn)的速度。簡易的操作、高品質(zhì)的圖像采集系統(tǒng)、精確的測量分析為您的生產(chǎn)保駕護(hù)航
更新時(shí)間:2025-07-08
拉絲模具測量儀
拉絲模具測孔儀對拉絲？讖.孔型進(jìn)行測量.拉絲模具測孔儀對異型孔也可以進(jìn)行測量.拉絲模具測孔儀也可以對孔型及表面光潔度進(jìn)行觀察.拉絲模具測孔儀操作簡單.易學(xué).高效.高精度
更新時(shí)間:2025-07-08
臺式薄膜探針反射儀
ftpadv 臺式薄膜探針反射儀臺式薄膜探針反射儀ftpadv，ftpadv是一種具有成本效益的臺式反射膜厚儀解決方案，它具有非？焖俚暮穸葴y量。在100毫秒以內(nèi)進(jìn)行測量，其精度低于0.3nm，膜厚范圍在50 nm -25 μm。為了便于分光反射測量操作，該儀器包括了范圍廣泛的預(yù)定配方。
更新時(shí)間:2025-07-08
綜合薄膜測量軟件
ftpadv expert 綜合薄膜測量軟件，光譜反射測量軟件ftpadv expert是專門為測量和分析r(λ)和t(λ)而設(shè)計(jì)的。用于確定各種材料的薄膜厚度、消光系數(shù)或折射率的光譜數(shù)據(jù)分析，這些參數(shù)都被加載到sentech光譜反射測量軟件中，使得能夠根據(jù)cauchy色散、drude振蕩給出的參數(shù)描述和擬合材料。
更新時(shí)間:2025-07-08
光伏測量儀器
mdpinline 光伏測量儀器，一秒內(nèi)完成正片晶片掃描。mdpinline是為高速自動(dòng)掃描硅晶片而設(shè)計(jì)的，它以每片不到一秒的時(shí)間記錄少子壽命的全部形貌。利用微波檢測光電導(dǎo)率定量測量少子壽命。憑借其緊湊的設(shè)計(jì)，mdpinline可以靈活地集成在傳送帶上或晶片分選系統(tǒng)中。
更新時(shí)間:2025-07-08
光伏測量儀器
mdpinline ingot 光伏測量儀器，多晶形貌少子壽命測量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設(shè)計(jì)的。對于一個(gè)面，以1毫米的分辨率，無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費(fèi)不到一分鐘。電阻率和導(dǎo)電類型變化的自動(dòng)掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測爐子性能。面可以自動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)，以便測量所有的四個(gè)側(cè)面。
更新時(shí)間:2025-07-08
在線壽命和電阻率逐行掃描儀
mdpinline ingot 光伏測量儀器，多晶形貌少子壽命測量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設(shè)計(jì)的。對于一個(gè)面，以1毫米的分辨率，無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費(fèi)不到一分鐘。電阻率和導(dǎo)電類型變化的自動(dòng)掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測爐子性能。面可以自動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)，以便測量所有的四個(gè)側(cè)面。
更新時(shí)間:2025-07-08
德國Sentech激動(dòng)掃描系統(tǒng)
德國sentech激動(dòng)掃描系統(tǒng)mdppro,少子壽命測量儀器的特征在于以1mm分辨率對500mm的一個(gè)面在不到4分鐘內(nèi)完成掃描。電阻率和少子壽命的測量完全無觸摸。利用微波檢測光電導(dǎo)率(mdp)同時(shí)測量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和p/n導(dǎo)電類型的變化。
更新時(shí)間:2025-07-08
自動(dòng)掃描薄膜測量儀器
sensol是sentech光伏產(chǎn)品組合中的自動(dòng)大面積掃描儀器。自動(dòng)表征膜厚、薄層電阻、霧度、反射和透射的均勻性。使用sensol，可以監(jiān)測大型玻璃基板上的沉積過程的均勻性，從而可以顯著減少儀器維護(hù)后重新開始生產(chǎn)的時(shí)間。
更新時(shí)間:2025-07-08
德國Sentech光伏測量儀
senperc pv 是perc電池制造質(zhì)量控制的創(chuàng)新解決方案。senperc pv 測量al2o3/sinx堆疊層和用于鈍化perc電池的單層膜。監(jiān)測沉積過程的穩(wěn)定性。由此，可以優(yōu)化維護(hù)時(shí)間間隔。
更新時(shí)間:2025-07-08
德國Sentech光伏測量儀器
德國sentech光伏測量儀器mdpspot，具有成本效益的臺式少子壽命測試儀mdpspot可用于表征晶片或面。它為少子壽命測量提供了一個(gè)測量點(diǎn)。 低成本桌面式壽命測量系統(tǒng)，用于手動(dòng)操作表征不同制備階段的各種不同硅樣品。可選的手動(dòng)操作z軸用于厚度多達(dá)156毫米的樣品。標(biāo)準(zhǔn)軟件可輸出可視化的測量結(jié)果。
更新時(shí)間:2025-07-08
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測系統(tǒng)
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測系統(tǒng) rt inline 反射率、透射率和膜厚的高速在線測量是rt inline的設(shè)計(jì)特點(diǎn)。傳感器頭陣列掃描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射，作為內(nèi)部參考測量。利用ftpadv expert軟件可以方便地進(jìn)行層沉積過程的在線監(jiān)測。軟件接口可用于與主機(jī)的數(shù)據(jù)通信。
更新時(shí)間:2025-07-08
ALD實(shí)時(shí)監(jiān)測儀
sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測儀是一種新型的光學(xué)診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率，厚度，折射率)，在短時(shí)間內(nèi)開發(fā)新工藝、實(shí)時(shí)研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機(jī)理是sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測儀的主要應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-07-08
德國Optosol 涂層吸收率發(fā)射率檢測儀
德國optosol r1 涂層吸收率發(fā)射率檢測儀，用于測量管狀或平面太陽能吸收涂層的定向熱發(fā)射度，其基礎(chǔ)是測量來自擴(kuò)展熱源的紅外輻射的反射率操作溫度:70 - 90°c
更新時(shí)間:2025-07-08
德Optosol太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀
德optosol-k3 太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀，k3型發(fā)射率檢測儀由一個(gè)被加熱到70℃的發(fā)光體（作為熱輻射源）和三個(gè)對波長在8-14μm范圍的光線敏感的探測器組成。 來自發(fā)光體的輻射均勻分布在用作漫射輻射源的積分球內(nèi)。檢測器以與樣品表面法線成12°的角度安裝。被測量的是由樣品反射回來的輻射。
更新時(shí)間:2025-07-08

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