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光學(xué)測(cè)量?jī)x產(chǎn)品及廠家

美國(guó)SONIX 晶圓檢測(cè)設(shè)備
美國(guó)sonix 晶圓檢測(cè)設(shè)備 autowafe pro.為全自動(dòng)晶圓檢測(cè)設(shè)計(jì)的機(jī)型，主要應(yīng)用在bond wafer，mems 內(nèi)部空洞、離層檢測(cè)，tsv量測(cè)方面。
更新時(shí)間:2025-07-09
臺(tái)式薄膜探針?lè)瓷鋬x
ftpadv 臺(tái)式薄膜探針?lè)瓷鋬x臺(tái)式薄膜探針?lè)瓷鋬xftpadv，ftpadv是一種具有成本效益的臺(tái)式反射膜厚儀解決方案，它具有非常快速的厚度測(cè)量。在100毫秒以內(nèi)進(jìn)行測(cè)量，其精度低于0.3nm，膜厚范圍在50 nm -25 μm。為了便于分光反射測(cè)量操作，該儀器包括了范圍廣泛的預(yù)定配方。
更新時(shí)間:2025-07-09
綜合薄膜測(cè)量軟件
ftpadv expert 綜合薄膜測(cè)量軟件，光譜反射測(cè)量軟件ftpadv expert是專門(mén)為測(cè)量和分析r(λ)和t(λ)而設(shè)計(jì)的。用于確定各種材料的薄膜厚度、消光系數(shù)或折射率的光譜數(shù)據(jù)分析，這些參數(shù)都被加載到sentech光譜反射測(cè)量軟件中，使得能夠根據(jù)cauchy色散、drude振蕩給出的參數(shù)描述和擬合材料。
更新時(shí)間:2025-07-09
光伏測(cè)量?jī)x器
mdpinline 光伏測(cè)量?jī)x器，一秒內(nèi)完成正片晶片掃描。mdpinline是為高速自動(dòng)掃描硅晶片而設(shè)計(jì)的，它以每片不到一秒的時(shí)間記錄少子壽命的全部形貌。利用微波檢測(cè)光電導(dǎo)率定量測(cè)量少子壽命。憑借其緊湊的設(shè)計(jì)，mdpinline可以靈活地集成在傳送帶上或晶片分選系統(tǒng)中。
更新時(shí)間:2025-07-09
光伏測(cè)量?jī)x器
mdpinline ingot 光伏測(cè)量?jī)x器，多晶形貌少子壽命測(cè)量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設(shè)計(jì)的。對(duì)于一個(gè)面，以1毫米的分辨率，無(wú)接觸、無(wú)破壞地測(cè)量電阻率和少子壽命花費(fèi)不到一分鐘。電阻率和導(dǎo)電類型變化的自動(dòng)掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測(cè)爐子性能。面可以自動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)，以便測(cè)量所有的四個(gè)側(cè)面。
更新時(shí)間:2025-07-09
在線壽命和電阻率逐行掃描儀
mdpinline ingot 光伏測(cè)量?jī)x器，多晶形貌少子壽命測(cè)量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設(shè)計(jì)的。對(duì)于一個(gè)面，以1毫米的分辨率，無(wú)接觸、無(wú)破壞地測(cè)量電阻率和少子壽命花費(fèi)不到一分鐘。電阻率和導(dǎo)電類型變化的自動(dòng)掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測(cè)爐子性能。面可以自動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)，以便測(cè)量所有的四個(gè)側(cè)面。
更新時(shí)間:2025-07-09
德國(guó)Sentech激動(dòng)掃描系統(tǒng)
德國(guó)sentech激動(dòng)掃描系統(tǒng)mdppro,少子壽命測(cè)量?jī)x器的特征在于以1mm分辨率對(duì)500mm的一個(gè)面在不到4分鐘內(nèi)完成掃描。電阻率和少子壽命的測(cè)量完全無(wú)觸摸。利用微波檢測(cè)光電導(dǎo)率(mdp)同時(shí)測(cè)量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和p/n導(dǎo)電類型的變化。
更新時(shí)間:2025-07-09
自動(dòng)掃描薄膜測(cè)量?jī)x器
sensol是sentech光伏產(chǎn)品組合中的自動(dòng)大面積掃描儀器。自動(dòng)表征膜厚、薄層電阻、霧度、反射和透射的均勻性。使用sensol，可以監(jiān)測(cè)大型玻璃基板上的沉積過(guò)程的均勻性，從而可以顯著減少儀器維護(hù)后重新開(kāi)始生產(chǎn)的時(shí)間。
更新時(shí)間:2025-07-09
德國(guó)Sentech光伏測(cè)量?jī)x
senperc pv 是perc電池制造質(zhì)量控制的創(chuàng)新解決方案。senperc pv 測(cè)量al2o3/sinx堆疊層和用于鈍化perc電池的單層膜。監(jiān)測(cè)沉積過(guò)程的穩(wěn)定性。由此，可以優(yōu)化維護(hù)時(shí)間間隔。
更新時(shí)間:2025-07-09
德國(guó)Sentech光伏測(cè)量?jī)x器
德國(guó)sentech光伏測(cè)量?jī)x器mdpspot，具有成本效益的臺(tái)式少子壽命測(cè)試儀mdpspot可用于表征晶片或面。它為少子壽命測(cè)量提供了一個(gè)測(cè)量點(diǎn)。 低成本桌面式壽命測(cè)量系統(tǒng)，用于手動(dòng)操作表征不同制備階段的各種不同硅樣品。可選的手動(dòng)操作z軸用于厚度多達(dá)156毫米的樣品。標(biāo)準(zhǔn)軟件可輸出可視化的測(cè)量結(jié)果。
更新時(shí)間:2025-07-09
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng)
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng) rt inline 反射率、透射率和膜厚的高速在線測(cè)量是rt inline的設(shè)計(jì)特點(diǎn)。傳感器頭陣列掃描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射，作為內(nèi)部參考測(cè)量。利用ftpadv expert軟件可以方便地進(jìn)行層沉積過(guò)程的在線監(jiān)測(cè)。軟件接口可用于與主機(jī)的數(shù)據(jù)通信。
更新時(shí)間:2025-07-09
ALD實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀
sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀是一種新型的光學(xué)診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長(zhǎng)速率，厚度，折射率)，在短時(shí)間內(nèi)開(kāi)發(fā)新工藝、實(shí)時(shí)研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機(jī)理是sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀的主要應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-07-09
3dAOI光學(xué)檢測(cè)設(shè)備
pslm pmp 可編程相位輪廓調(diào)制測(cè)量技術(shù)華南區(qū)銷售總監(jiān)：鄒丁山◆ 四/八向投射同步結(jié)構(gòu)光技術(shù)
更新時(shí)間:2025-07-09
aoi自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)機(jī)
pslm pmp 可編程相位輪廓調(diào)制測(cè)量技術(shù)華南區(qū)銷售總監(jiān)：鄒丁山◆ 四/八向投射同步結(jié)構(gòu)光技術(shù)
更新時(shí)間:2025-07-09
德國(guó)NETZSCH差示掃描量熱儀
差示掃描量熱儀dsc 300 ，是全面、可靠的dsc儀器系列，表征材料熱性能游刃有余。
更新時(shí)間:2025-07-09
德國(guó)NETZSCH 閃射法導(dǎo)熱儀
lfa 467 hyperflash 閃射法導(dǎo)熱儀，自由選擇測(cè)試氣氛，優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)置與閃射光源，16位自動(dòng)進(jìn)樣器，高的測(cè)量效率，寬廣的溫度范圍，靈活配備冷卻系統(tǒng)，設(shè)計(jì)獨(dú)特，性能優(yōu)異，配備氙燈光源的，高溫測(cè)試系統(tǒng)，寬廣的溫度范圍，真空密閉爐體，確保氣氛純凈，防止氧化，內(nèi)置微型管式爐，更高的測(cè)量效率，高數(shù)據(jù)采集速率- 用于薄膜與高導(dǎo)熱材料的解決方案
更新時(shí)間:2025-07-09
OAI UV METER
oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
更新時(shí)間:2025-07-09
日本理學(xué)X射線衍射儀
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無(wú)損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測(cè)角儀，用于氮化鎵（gan)質(zhì)量管理，可對(duì)應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統(tǒng)
更新時(shí)間:2025-07-09
日本理學(xué)X射線衍射儀
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無(wú)損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測(cè)角儀，用于氮化鎵（gan)質(zhì)量管理，可對(duì)應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統(tǒng)
更新時(shí)間:2025-07-09
布魯克Bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀
布魯克bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀 contour x, 滿足微納米表面測(cè)量需要
更新時(shí)間:2025-07-09
布魯克Bruker 三維光學(xué)輪廓儀
布魯克bruker contourx-200 三維光學(xué)輪廓儀，靈活的臺(tái)式表面形貌測(cè)量設(shè)備
更新時(shí)間:2025-07-09
布魯克臺(tái)階儀-探針式表面輪廓儀
布魯克 dektakxt 臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）設(shè)計(jì)創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率，垂直高度重復(fù)性高達(dá) 5å。第十代 dektakxt臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，實(shí)現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測(cè)量，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學(xué)域。
更新時(shí)間:2025-07-09
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41b，可檢測(cè)光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.1um 的顆粒。
更新時(shí)間:2025-07-09
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f,寬廣的測(cè)試范圍，可測(cè)試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-07-09
美AZ太陽(yáng)能吸收率發(fā)射率測(cè)量?jī)x
美az 總輻射度/太陽(yáng)能吸收率(tesa)便攜式反射計(jì) tesa 2000，根據(jù)astm e408測(cè)定熱發(fā)射率和空氣質(zhì)量為零時(shí)的太陽(yáng)吸收率(空間應(yīng)用)。它緊湊，輕巧，堅(jiān)固耐用，符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)，便于在野外或?qū)嶒?yàn)室中使用。
更新時(shí)間:2025-07-09
日本RION氣體粒子計(jì)數(shù)器
日本rion氣體粒子計(jì)數(shù)器：kl-28b/28bf( 光散射法）,粒徑范圍（2個(gè)通道）：≥0.2μm， ≥0.5μm, 大粒子數(shù)濃度：1 200 顆/l （誤差值低于5%）
更新時(shí)間:2025-07-09
日本RION 液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀：ks-16/16f ( 光散射法）, 大粒子數(shù)濃度：1 200 顆/l （誤差值低于5%）, 粒徑范圍（5個(gè)通道）：≥0.1μm， ≥0.15μm ， ≥0.2μm ， ≥0.3μm, ≥0.5μm
更新時(shí)間:2025-07-09
日本RION 液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀：ks-17b ( 光散射法）,純水用，大粒子數(shù)濃度：100 000 顆/ml （誤差值低于5%），粒徑范圍（2個(gè)通道）：≥0.05μm， ≥0.1μm （4通道需工廠定制）
更新時(shí)間:2025-07-09
日本理音RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本理音rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f，寬廣的測(cè)試范圍，可測(cè)試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-07-09
日本RION粒子計(jì)數(shù)器
日本rion粒子計(jì)數(shù)器kc-24 ( 光散射法）,液體粒子計(jì)數(shù)器，可檢測(cè)從純水到氫氟酸各種各樣的液體？蓽y(cè) 0.1um 空氣顆粒度儀kc-24
更新時(shí)間:2025-07-09
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41a ( 光阻用），可檢測(cè)光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.15um 的顆粒。粒徑范圍（4個(gè)通道，出廠默認(rèn)）：≥0.15μm， ≥0.2μm ， ≥0.3μm ， ≥0.5μm
更新時(shí)間:2025-07-09
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀：ks-18f ( 光散射法）液體光學(xué)顆粒度儀 ks-18f寬廣的測(cè)試范圍，可測(cè)試 0.05~0.2um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。 可偵測(cè)到小粒徑 0.05um 的粒子
更新時(shí)間:2025-07-09
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42a&42af ( 光散射法）,可測(cè)試 0.1~0.5um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-07-09
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42b/42bf ( 光散射法）,寬廣的測(cè)試范圍，可測(cè)試 0.2~2.0um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-07-09
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42c ( 光散射法）,寬廣的測(cè)試范圍，可測(cè)試 0.5~20um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-07-09
日本理音RION粒子計(jì)數(shù)器
日本理音 rion 粒子計(jì)數(shù)器 ks-20f，檢測(cè)粒徑為0.02μm的顆粒，從0.02μm到0.08μm可達(dá)7個(gè)通道
更新時(shí)間:2025-07-09
日本理音RION粒子計(jì)數(shù)器
日本rion粒子計(jì)數(shù)器kc-01e ( 光散射法）,液體粒子計(jì)數(shù)器，測(cè)試粒徑（5個(gè)通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新時(shí)間:2025-07-09
日本理音RION粒子計(jì)數(shù)器
日本rion粒子計(jì)數(shù)器kc-03b ( 光散射法）,測(cè)試粒徑（5個(gè)通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新時(shí)間:2025-07-09
FPD-VIS-300快速光學(xué)檢測(cè)器
fpd-vis-300 是一種快速光學(xué)檢測(cè)器，用于可視化和測(cè)量 320 nm 至 1100 nm 光譜范圍內(nèi)的激光束的時(shí)間特性。它具有硅 pin 光電二管，旨在將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，然后使用示波器或頻譜分析儀等第三方測(cè)量?jī)x器進(jìn)行測(cè)量。fpd-vis-300 的上升時(shí)間為 300 皮。其反向偏置電壓由內(nèi)部電池提供。
更新時(shí)間:2025-07-09
FPD-IG-175光學(xué)檢測(cè)器
fpd-ig-175 是一款快速光學(xué)檢測(cè)器，用于可視化和測(cè)量 900 nm 至 1700 nm 光譜范圍內(nèi)的激光束的時(shí)間特性。它有一個(gè) ingaas pin 光電二管，旨在將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，然后使用示波器或頻譜分析儀等第三方測(cè)量?jī)x器進(jìn)行測(cè)量。fpd-ig-175 的上升時(shí)間為 175 皮。其反向偏置電壓由內(nèi)部電池提供。
更新時(shí)間:2025-07-09
FPD-IG-25光學(xué)檢測(cè)器
fpd-ig-25 是一種快速光學(xué)檢測(cè)器，用于可視化和測(cè)量 900 nm 至 1700 nm 光譜范圍內(nèi)的激光束的時(shí)間特性。它有一個(gè) ingaas pin 光電二管，旨在將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，然后使用示波器或頻譜分析儀等第三方測(cè)量?jī)x器進(jìn)行測(cè)量。fpd-ig-25 的上升時(shí)間為 25 皮。其反向偏置電壓由內(nèi)部電池提供。
更新時(shí)間:2025-07-09
BeamWatch Integrated自動(dòng)激光測(cè)量?jī)x
beamwatch integrated自動(dòng)激光測(cè)量?jī)x用于自動(dòng)化制造的光束表征系統(tǒng) 實(shí)時(shí)自動(dòng)測(cè)量激光功率、焦散和焦點(diǎn)偏移支持單模激光器全自動(dòng)操作帶有好/壞信號(hào)的趨勢(shì)分析帶有時(shí)間戳的詳細(xì)報(bào)告無(wú)需更改測(cè)量系統(tǒng)即可使用不同類型的焊頭堅(jiān)固耐用，適用于工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境輪班操作中頻繁測(cè)量的短測(cè)量時(shí)間
更新時(shí)間:2025-07-09
MS-ROC多次自相關(guān)儀
ms-roc（multi-shot row optical autocorrelator）使用二階掃描自相關(guān)實(shí)現(xiàn)脈沖寬度測(cè)量。它基于邁克爾遜干涉儀和二次諧波生成（shg 自相關(guān)）。不同的型號(hào)允許分析低至 4 fs 的超短脈沖和 80 ps 的長(zhǎng)脈沖，即使對(duì)于 pj 和 nj 范圍內(nèi)的低脈沖能量也是如此。高達(dá) 130ps/s 的高掃描速度是實(shí)時(shí)測(cè)量的理想選擇。
更新時(shí)間:2025-07-09
MIKS系列脈沖壓縮器
n2-photonics提供的miks系列脈沖壓縮器，可以光譜展寬和時(shí)間壓縮您的脈沖。輸出的脈沖寬度取決于輸入的脈沖寬度。特點(diǎn)：全天候穩(wěn)定運(yùn)行;輕松與現(xiàn)有激光系統(tǒng)集成;無(wú)有源光學(xué)元件;無(wú)機(jī)械移動(dòng)部件;無(wú)需維護(hù)、可在惡劣環(huán)境中運(yùn)行
更新時(shí)間:2025-07-09
德國(guó)EMO 紅外觀察鏡/紅外夜視儀
德國(guó)emo公司的86600和86910紅外觀察儀選用與7215同款顯像管6914，具有較好的分辨率和靈敏度。是一個(gè)高性能，手持式近紅激光外觀察儀？捎糜诩t外激光光路調(diào)節(jié)、激光器組裝精密小孔對(duì)準(zhǔn)、熒光觀察等。
更新時(shí)間:2025-07-09
半球發(fā)射率測(cè)量?jī)x AE1/RD1 美 D&S 現(xiàn)貨 原裝進(jìn)口
半球發(fā)射率測(cè)量?jī)xae1 rd1是用于測(cè)量發(fā)射率的用儀器。低溫加熱被測(cè)樣品，儀器通過(guò)探測(cè)器接受樣品材料表面輻射出來(lái)的紅外能量后換算出發(fā)射率，根據(jù)設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)體發(fā)射率準(zhǔn)參數(shù)，計(jì)算并讀出被測(cè)樣品發(fā)射率。
更新時(shí)間:2025-07-09
上海 半球發(fā)射率測(cè)量?jī)x AE1/RD1 美 D&S 現(xiàn)貨 原裝進(jìn)口
半球發(fā)射率測(cè)量?jī)xae1 rd1是用于測(cè)量發(fā)射率的用儀器。低溫加熱被測(cè)樣品，儀器通過(guò)探測(cè)器接受樣品材料表面輻射出來(lái)的紅外能量后換算出發(fā)射率，根據(jù)設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)體發(fā)射率準(zhǔn)參數(shù)，計(jì)算并讀出被測(cè)樣品發(fā)射率。
更新時(shí)間:2025-07-09
卡爾費(fèi)休水分儀 CA-310 三菱化學(xué) 現(xiàn)貨 庫(kù)倫法/容量法
半球發(fā)射率測(cè)量?jī)xae1 rd1是用于測(cè)量發(fā)射率的用儀器。低溫加熱被測(cè)樣品，儀器通過(guò)探測(cè)器接受樣品材料表面輻射出來(lái)的紅外能量后換算出發(fā)射率，根據(jù)設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)體發(fā)射率準(zhǔn)參數(shù)，計(jì)算并讀出被測(cè)樣品發(fā)射率。
更新時(shí)間:2025-07-09
汽車太陽(yáng)膜透光率測(cè)試儀高精度防爆膜測(cè)試儀建筑膜檢測(cè)儀器
ns101汽車太陽(yáng)膜透光率測(cè)試儀高精度防爆膜測(cè)試儀建筑膜檢測(cè)儀器的測(cè)試原理是采用紫外光源,可見(jiàn)光源和紅外光源照射被測(cè)透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過(guò)被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過(guò)光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過(guò)率,用百分?jǐn)?shù)表示。大多數(shù)的太陽(yáng)膜,可見(jiàn)光標(biāo)注透過(guò)率指標(biāo),紅外線和紫外線標(biāo)注阻隔率指標(biāo),阻隔率=100%-透過(guò)率。ns101直接測(cè)量和顯示紫外線的阻隔率,紅外線的阻隔率和可見(jiàn)光透過(guò)率,
更新時(shí)間:2025-07-09
汽車前檔貼膜透光率測(cè)試儀
ns530a汽車前檔貼膜透光率測(cè)試儀具有三個(gè)獨(dú)立測(cè)試單元分別為紫外，紅外，和可見(jiàn)光，顯示值為紅外透過(guò)率值，紫外透過(guò)率值和可見(jiàn)光透過(guò)率值。
更新時(shí)間:2025-07-09

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