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cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設備，這兩個設備互為是數據發(fā)送端和數據接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-05-14
pcie總線的層次組成結構與網絡中的層次結構有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現的。在pcie體系結構中，數據報文先在設備的核心層(device core)中產生，然后再經過該設備的事務層(transactionlayer)、數據鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時間:2025-05-14
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當pcie設備進入休眠狀態(tài)，主電源已經停止供電時，pcie設備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設備提供主電源vcc。
更新時間:2025-05-14
pcie 初始化完成后會進入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號質量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-05-14
加工定制：是類型：指針式電阻測量儀表品牌：yaos堯順型號：dx200ghd測量范圍：10-5--105ω（mω）電 源：220±10%測試電壓：2 mv、20 mv、200 mv、2v（v）精度：0.1%重量：8.5（kg）尺 寸：345mm*480mm*145mm規(guī)格：φ30x180
更新時間:2025-05-14
mipi傳輸過程中的信號質量問題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個聯盟，旨在把手機內部的接口如存儲接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標準化，減少兼容性問題并簡化設計。
更新時間:2025-05-14
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試基于示波器的當抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中，這些工具只有6-8個測量項目。dpojet全面支持所有通道，包括同時測量每條通道的眼圖。
更新時間:2025-05-14
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質量問題 mipi驅動問題 重起問題
更新時間:2025-05-14
硬件工程師調試mipi屏經驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅動問題
更新時間:2025-05-14
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調試經驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動
更新時間:2025-05-14
mipi調試經驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動 硬件工程師調試mipi屏經驗
更新時間:2025-05-14
mipi調試經驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動 硬件工程師調試mipi屏經驗 mipi 接口的sensor問題
更新時間:2025-05-14
mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數據格式，加深在數據線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止狀態(tài)進入相應模式需要的時序：
更新時間:2025-05-14
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產品上留有碎渣） 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2025-05-14
出租agilent usb3.0測試夾具u7242-26401
更新時間:2025-05-14
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2025-05-14
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2025-05-14
emmc 上電時序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導致貼片虛焊。
更新時間:2025-05-14
emmc 時鐘測試 數據信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點夾在了單板的固定螺釘上，整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時間:2025-05-14
emmc 復位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結果大大改善。
更新時間:2025-05-14
emmc4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數據信號測試實際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點是低成本，低衰減比，缺點是致性不好，隔直電容參數及帶寬不好控制。
更新時間:2025-05-14
相關產品：emmc5 , 上電時序測試 , 電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數據信號測試通俗的來說，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標準接口封裝。
更新時間:2025-05-14
emmc4 , 復位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內部集成了 flash controller，包括了協議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗、電源管理、時鐘管理、數據存取等功能。
更新時間:2025-05-14
emmc5 復位測試 clk測試 dqs測試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
更新時間:2025-05-14
emmc5 復位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實現卡的初始化和數據訪問。device identification mode包括3個階段idle state、ready state、identification state。
更新時間:2025-05-14
emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復位測試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會進入該階段。
更新時間:2025-05-14
相關產品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host，頻率與 clk 信號相同，用于 host 端進行數據接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數據傳輸的穩(wěn)定性，省去總線 tuning 過程。
更新時間:2025-05-14
數據信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數據傳輸的情況下，cmd 信號保持高電平，當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。
更新時間:2025-05-14
數據信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數據傳輸的情況下，cmd 信號保持高電平，當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。
更新時間:2025-05-14
clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試，眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗值，不包含 start bit。各個 data line 上的 crc 為對應 data line 的 data 的 16 bit crc 校驗值。
更新時間:2025-05-14
數據信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下，data line 在時鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數據，其中上升沿傳輸數據的奇數字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數據的偶數字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。
更新時間:2025-05-14
復位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當 emmc device 處于 sdr 模式時，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測試過程（bus testing procedure），測試總線硬件上的連通性。
更新時間:2025-05-14
商品名稱：低阻抗率計 mcp-t370型 (手提式)loresta-ax特色：維持安定之高質量，依據之四探針理論之高精度之阻抗率計操作簡單，現場使用攜帶型方便，用于生產技術、質量管理測定范圍：10-2～106ω資料輸出：usb memory體積：約 228 w× 85 d× 65 hmm, 420g標準配備
更新時間:2025-05-14
gq-hw2a電弧紅外碳硫分析儀： 主要技術指標：*測量范圍：碳（c）0.001%~10.000%(可擴至99.999%) 硫（s）0.0005%~0.5000%(可擴至99.999%) *分析時間：25~60s可調，一般35s*分析誤差：碳優(yōu)于gb/223.69-1997標準 硫優(yōu)于gb/t223.68-1997標準 *燃燒功率：小于2.5kva； *工作原理：電弧燃燒，紅外檢測
更新時間:2025-05-14
本儀器由半導體激光管、微型穩(wěn)壓電源、光學系統(tǒng)、調焦系統(tǒng)、隔爆結構和調節(jié)裝置組合而成，為體式激光指向產品。本儀器集中我公司原有激光產品的許多優(yōu)點，造型新穎，調節(jié)靈活，安裝快捷、方便、安全性能高，使用壽命長。發(fā)光器采用進口晶體管，可隨意調焦，可更換激光管及穩(wěn)定電源。本儀器在-20℃~40℃環(huán)境中及在海拔5000米以上高原環(huán)境中都可正常使用。
更新時間:2025-05-13
類型：便攜式 測量范圍：0-20ppm 測量對象：cl2 測量精度：0.1 電壓：dc3.6v鋰電；1200mah（v） 分辨率：0.3 尺寸：110mm×60mm×40mm（mm） 重量：≤0.2g（kg） 電源：dc3.6v鋰電；1200mah
更新時間:2025-05-13
in8雙環(huán)入滲儀是用來測量水滲入土壤的滲透速度。in8有個6英寸的內環(huán)、12英寸的外環(huán)，環(huán)高7英寸。在雙環(huán)的中心有根焊接鋼棒來穩(wěn)固外環(huán)和內環(huán)，使兩個環(huán)處于同心。鋼棒兩端有橡膠手柄，使內外環(huán)插入土壤變得很簡單。此種環(huán)適用于土壤堅硬的地區(qū)。15分鐘內測定滲透速率。
更新時間:2025-05-13
泵頭殼體材料—pps聚苯硫醚，在蠕動泵正常工作時，液體只接觸軟管，由于長期摩擦 或輸送腐蝕性液體，軟管會逐漸老化，甚至破裂。旦腐蝕性液體滲漏，首先會接觸泵 頭，如果泵頭的材料不耐腐蝕，必然導致其酥裂；這將給生產、試驗或教學帶來不必要的損失。而pps-聚苯硫醚材料的泵頭不存在以上問題。聚苯硫醚泵頭精度高，耐高溫， 抗腐蝕，尤其在抗有機溶劑等強化學腐蝕方面表現優(yōu)異，它拓寬了蠕動泵的使用范圍， 使其在更多的領域發(fā)揮作用。
更新時間:2025-05-13
dg-1型車燈調試儀是采用光電原理，經精密加工的特殊光學鏡頭而設計制造。本產品適用于各種汽車檢測中心、制造廠、維修廠及車隊，可對各種機動車輛前照燈的發(fā)光強度及偏斜度進行準確的測量校正，是種理想的無源調試儀，具有指示精確、直觀、性能穩(wěn)定、隨意移動等特點。
更新時間:2025-05-13
ul型阻移式物位計，對開口料倉與密閉料倉中的粉狀、顆粒狀、塊狀物料進行檢測、報警及自動控制。經鋼鐵、耐火、水泥、橡膠、化纖、電力等工業(yè)的長期運行，都獲得理想效果，被廣泛用于工業(yè)生產中。ul型儀表屬機械儀表，結構簡單，耐高溫，防塵，耐沖擊，無繁雜電氣線路，控制可靠，可長期運行。其產品型號可分為ul-2、ul-3、ul-4、ul-k等。
更新時間:2025-05-13
紫外線能激發(fā)某些物質發(fā)生熒光和具有殺菌能力，因此紫外線分析在科學研究、醫(yī)藥衛(wèi)生、石油化工、染料、涂料、橡膠、紡織、造紙、食品、地質勘探、考古、公安等具有廣泛的用途。
更新時間:2025-05-13
jt-2000型漏水檢測儀為袖珍便攜式漏水檢測儀，主機體積只有150mm×70mm×116mm大小，重約870克，攜帶操作極為輕巧簡便，整體設計采用全金屬外殼，堅固耐用
更新時間:2025-05-13
分度值: i=0.005毫米/米主要技術指標:1、顯示范圍：0-±1999數字2、測量范圍：≤±500數字3、示值誤差：≤±(1+a/50)注:a為受檢點標稱值的絕對值(數)用途: 適合"0"檢定,只有個測量檔。（配鋰電池2節(jié)）
更新時間:2025-05-13
壓力真空信號發(fā)生器是真空，氣壓兩種發(fā)生源于體的真空壓力信號裝發(fā)生器，由次手壓泵，二次螺旋增壓泵，壓力調節(jié)及正負壓轉換閥四部分構成？蔀樾瀴毫Γú顗海┳兯推，精密壓力表，普通壓力表，其它壓力儀器儀表提供壓力源。
更新時間:2025-05-13
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