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Zeta電位儀產(chǎn)品及廠家

美國(guó)MAS超聲粒度儀
美國(guó)mns公司超聲粒度儀系列主要由 zeta-aps,aps-100,zetafinder zf400,zetaacoustic za500,chdf-3000/4000組成,可以為各行業(yè)提供業(yè)的粒度和zeta電位解決方案。 超聲法系列粒度儀測(cè)試樣品的原理是采用聲波發(fā)生器發(fā)出一定頻率和強(qiáng)度的超聲波,由于不同粒徑大小的顆粒對(duì)聲波的吸收、散射作用不同, 導(dǎo)致聲波衰減程度不同。
更新時(shí)間:2025-07-09
多功能超聲粒度分析儀
美國(guó)mas公司研發(fā)的多功能超聲粒度分析儀系列產(chǎn)品,完美的解決了目市面上光學(xué)方法無(wú)法克服的納米粒度檢測(cè)難題,如光學(xué)方法必須要對(duì)樣品進(jìn)行稀釋 后測(cè)試其粒徑和zeta電位以及對(duì)于復(fù)雜體系無(wú)法給出真實(shí)的粒度分布等 。
更新時(shí)間:2025-07-09
美國(guó)MAS超聲粒度儀電位分析儀
美國(guó)mas超聲粒度儀電位分析儀,該儀器操作非常簡(jiǎn)單。它提供電腦控制、自動(dòng)測(cè)量,不須特別的樣品池,樣品可隨時(shí)從任何現(xiàn)場(chǎng)或?qū)嶒?yàn)中獲取,可直接實(shí)時(shí)獲得理想的數(shù)據(jù)
更新時(shí)間:2025-07-09
美國(guó)MAS超聲粒度儀和Zeta電位分析儀
美國(guó)mas超聲粒度儀和zeta電位分析儀,該儀器操作非常簡(jiǎn)單。它提供電腦控制、自動(dòng)測(cè)量,不須特別的樣品池,樣品可隨時(shí)從任何現(xiàn)場(chǎng)或?qū)嶒?yàn)中獲取,可直接實(shí)時(shí)獲得理想的數(shù)據(jù)
更新時(shí)間:2025-07-09
美國(guó)MAS超聲粒度分析儀
美國(guó)mas超聲粒度分析儀,可測(cè)量水溶液、非水溶液分散系,分散系濃度范圍從0.1% ~60%。非常輕松就可測(cè)量1nm到50um的樣品顆粒。該儀器操作非常簡(jiǎn)單。它提供電腦控制、自動(dòng)測(cè)量,不須特別的樣品池,樣品可隨時(shí)從任何現(xiàn)場(chǎng)或?qū)嶒?yàn)中獲取,可直接實(shí)時(shí)獲得理想的數(shù)據(jù)
更新時(shí)間:2025-07-09
多功能超聲粒度儀
多功能超聲粒度儀,可測(cè)量水溶液、非水溶液分散系,分散系濃度范圍從0.1% ~60%。非常輕松就可測(cè)量1nm到50um的樣品顆粒;
更新時(shí)間:2025-07-09
多孔材料表面Zeta電位分析儀
aps 從聲衰減光譜測(cè)量產(chǎn)生psd數(shù)據(jù),不需要稀釋樣品。aps還測(cè)量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、ph、電導(dǎo)率和溫度。
更新時(shí)間:2025-07-09
固體表面Zeta電位分析儀
固體表面zeta電位分析儀,可測(cè)量縱向粘度,60%固體,ph值,電導(dǎo)率,溫度,聲衰減和聲速度譜;
更新時(shí)間:2025-07-09
高濃度納米粒度及zeta電位分析儀
1)采用門的電動(dòng)聲波振蕩技術(shù),該儀器可完成非凡的電動(dòng)測(cè)量結(jié)果,從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限。2)提供數(shù)據(jù)快速準(zhǔn)確而不需要稀釋樣品,從而避免了稀釋器材的使用和錯(cuò)誤(樣品稀釋,zeta電位將*改變);3)該儀器可同時(shí)測(cè)量zeta電位
更新時(shí)間:2025-07-09
原液檢測(cè)納米粒度及zeta電位儀
1)采用門的電動(dòng)聲波振蕩技術(shù),該儀器可完成非凡的電動(dòng)測(cè)量結(jié)果,從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限。2)提供數(shù)據(jù)快速準(zhǔn)確而不需要稀釋樣品,從而避免了稀釋器材的使用和錯(cuò)誤(樣品稀釋,zeta電位將*改變);3)該儀器可同時(shí)測(cè)量zeta電位
更新時(shí)間:2025-07-09
胤煌-原液高濃度漿料粒度及Zeta電位分析儀
1)采用門的電動(dòng)聲波振蕩技術(shù),該儀器可完成非凡的電動(dòng)測(cè)量結(jié)果,從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限。2)提供數(shù)據(jù)快速準(zhǔn)確而不需要稀釋樣品,從而避免了稀釋器材的使用和錯(cuò)誤(樣品稀釋,zeta電位將*改變);3)該儀器可同時(shí)測(cè)量zeta電位
更新時(shí)間:2025-07-09
胤煌-超聲電聲法高濃度納米粒度儀
更新時(shí)間:2025-07-09
ZetaZF400電位分析儀
zetafinder zf400高濃度zeta電位分析儀 ,采用專門的電動(dòng)聲波振蕩技術(shù),該儀器可完成非凡的電動(dòng)測(cè)量結(jié)果,從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限,該儀器可同時(shí)測(cè)量zeta電位、ph、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測(cè)量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作;
更新時(shí)間:2025-07-09
納米粒度儀
chdf4000是基于光散原理的儀器,使用最新的技術(shù)對(duì)高分辨率的粒度分布(psd)進(jìn)行測(cè)量,包括高粒子檢測(cè)靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍、納米粒子的優(yōu)化分析;chdf4000可提供完整范圍5納米至nm3微米,真實(shí)的psd數(shù)據(jù);
更新時(shí)間:2025-07-09
ZetaZA500電位分析儀
zetaacoustic za500 電位分析儀,結(jié)合zeta電位分析儀、聲波、電聲測(cè)量三合一很強(qiáng),高的分辨率,免稀釋 zeta電位分析。mas應(yīng)用科學(xué)公司發(fā)明電動(dòng)聲波振幅(esa)技術(shù)用于高百分比之固體 zeta 表面測(cè)量。mas將其獨(dú)特的專業(yè)知識(shí)應(yīng)用在 zeta 電位和粒度分析儀器的設(shè)計(jì),使其成為 mas很強(qiáng)而有力的發(fā)明zeta電位量測(cè)儀。
更新時(shí)間:2025-07-09
進(jìn)口Zeta納米分析儀
采用專門的電動(dòng)聲波振蕩技術(shù),該儀器可完成非凡的電動(dòng)測(cè)量結(jié)果,從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限,該儀器可同時(shí)測(cè)量zeta電位、ph、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測(cè)量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作;
更新時(shí)間:2025-07-09
Zeta電位分析儀
zeta電位分析儀zeta可以測(cè)試:粒徑、zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。此儀器容易使用、測(cè)量精確。對(duì)于高達(dá)60%(體積)濃度的樣品,也無(wú)需進(jìn)行稀釋或樣品前處理,即可直接測(cè)量甚至對(duì)于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可直接進(jìn)行測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-07-09
ZetaFinder電位分析儀
zetafinder電位分析儀,該儀器操作非常簡(jiǎn)單。它提供電腦控制、自動(dòng)測(cè)量,不須特別的樣品池,樣品可隨時(shí)從任何現(xiàn)場(chǎng)或?qū)嶒?yàn)中獲取,可直接實(shí)時(shí)獲得理想的數(shù)據(jù)
更新時(shí)間:2025-07-09
美國(guó)MAS納米粒度及Zeta電位分析儀
美國(guó)mas納米粒度及zeta電位分析儀,可以測(cè)試:粒徑、zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。此儀器容易使用、測(cè)量精確。對(duì)于高達(dá)60%(體積)濃度的樣品,也無(wú)需進(jìn)行稀釋或樣品前處理,即可直接測(cè)量甚至對(duì)于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可直接進(jìn)行測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-07-09
粒徑檢測(cè)分析儀
粒徑檢測(cè)分析儀美國(guó)mas公司成立至今有30余年歷史,專注于超聲電聲法原理顆粒度檢測(cè)、 zeta電位分析儀的研發(fā)生產(chǎn)。超聲法原理測(cè)試樣品的顆粒分布,是采用聲波發(fā)生器發(fā)出一定頻率和強(qiáng)度的超聲波在樣品中傳播,由于不同大小粒徑對(duì)聲波的吸收、散射作用不同,導(dǎo)致聲波衰減程度不同。粒徑分析儀根據(jù)顆粒大小和聲波衰減之間的函數(shù)關(guān)系,得到顆粒的粒度
更新時(shí)間:2025-07-09
Zeta電位測(cè)定 美國(guó)MAS
zeta電位測(cè)定 美國(guó)maszeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù),無(wú)需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量;樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比),被測(cè)樣品無(wú)需稀釋,對(duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量;
更新時(shí)間:2025-07-09
高濃度納米粒度儀
1)可進(jìn)行詳細(xì)的、絕對(duì)的粒度分析,不需要稀釋;2)不需要設(shè)置稀顆粒大小數(shù)據(jù),aps可測(cè)量未稀釋的和/或不透明的樣品;3)更好的是,與其他粒度分析儀不同的是,你不必知道一個(gè)先驗(yàn)的或猜測(cè)的樣品粒度分布(psd)形狀;4)aps同時(shí)產(chǎn)生未稀釋的psd數(shù)據(jù),聲衰減和聲音速度譜,固體含量,ph,電導(dǎo)率和溫度;
更新時(shí)間:2025-07-09
納米粒度儀及Zeta電位分析儀
zeta-asp是高濃度膠體和乳液的特性參數(shù)檢測(cè)儀,可以測(cè)試:粒徑、zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。此儀器容易使用、測(cè)量精確。對(duì)于高達(dá)60%(體積)濃度的樣品,也無(wú)需進(jìn)行稀釋或樣品前處理,即可直接測(cè)量甚至對(duì)于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可直接進(jìn)行測(cè)量。結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)緊揍,外置的zeta電位滴定裝置(可選配)自動(dòng)摘定裝置可自動(dòng)、快速地判斷等電點(diǎn),可快速得到最佳分散劑和絮凝劑
更新時(shí)間:2025-07-09
AREPA原液在線納米粒度儀
arepa 原液在線納米粒度儀,在線粒度測(cè)量,工業(yè)加工狀態(tài),不必稀釋樣品經(jīng)硬件設(shè)計(jì)可全(24 hours/7 days) 候運(yùn)作,無(wú)需移動(dòng)部件實(shí)時(shí)控制的快速測(cè)量 這款新型的聲波傳感器粒徑測(cè)量可用在許多工業(yè)生產(chǎn); 如加工管道、化學(xué)反應(yīng)器、瓷磚印刷設(shè)備、半導(dǎo)體 cmp 拋光、石油生產(chǎn)/加工、藥品輸送系統(tǒng)等,同時(shí)具有顯著的經(jīng)濟(jì)效益。
更新時(shí)間:2025-07-09
ZetaFinderZF400 高濃度Zeta電位分析儀
該儀器可同時(shí)測(cè)量zeta電位、ph、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測(cè)量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作;自動(dòng)滴定法用于簡(jiǎn)單的iep測(cè)量;
更新時(shí)間:2025-07-09
ZetaAcoustic ZA500 電位分析儀
美國(guó)mas公司成立至今有30余年歷史,專注于超聲電聲法原理顆粒度檢測(cè)、 zeta電位分析儀的研發(fā)生產(chǎn)。超聲法原理測(cè)試樣品的顆粒分布,是采用聲波發(fā)生器發(fā)出一定頻率和強(qiáng)度的超聲波在樣品中傳播,由于不同大小粒徑對(duì)聲波的吸收、散射作用不同,導(dǎo)致聲波衰減程度不同。根據(jù)顆粒大小和聲波衰減之間的函數(shù)關(guān)系,得到顆粒的粒度
更新時(shí)間:2025-07-09
電聲法Zeta電位分析儀
電聲法zeta電位分析儀,樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比),被測(cè)樣品無(wú)需稀釋,對(duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量;zeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù),無(wú)需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量;
更新時(shí)間:2025-07-09
超聲法原理粒度電聲法Zeta電位分析儀
超聲法原理粒度電聲法zeta電位分析儀可以檢測(cè)樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比),被測(cè)樣品無(wú)需稀釋,對(duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量;
更新時(shí)間:2025-07-09
超聲法粒度Zeta電位分析儀 美國(guó)MAS
超聲法粒度zeta電位分析儀 美國(guó)maszeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù),無(wú)需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量
更新時(shí)間:2025-07-09
美國(guó)MASCHDF-3000原液高濃度納米粒度儀
美國(guó)maschdf3000-原液高濃度納米粒度儀精確非均勻樣品分析—包括納 米顆粒—?dú)w功于其與顆粒密度無(wú)關(guān)的分析。自動(dòng)/無(wú)人操作。所有組件都在個(gè)簡(jiǎn)易單窗口界面控制和操作。
更新時(shí)間:2025-07-09
分餾法原液高分辨納米粒度儀
分餾法原液高分辨納米粒度儀毛細(xì)管流體分離(chdf)技術(shù)是種高分辨的粒度分布(psd)檢測(cè)技術(shù)。毛細(xì)管流體分離技術(shù)(chdf)用于測(cè)量粒徑在5nm-3μm 范圍內(nèi)膠體的粒度分布(psd)。
更新時(shí)間:2025-07-09
美國(guó)MAS超聲電聲法Zeta電位分析儀
超聲電聲法zeta電位分析儀,該儀器操作非常簡(jiǎn)單。它提供電腦控制、自動(dòng)測(cè)量,不須特別的樣品池,樣品可隨時(shí)從任何現(xiàn)場(chǎng)或?qū)嶒?yàn)中獲取,可直接實(shí)時(shí)獲得理想的數(shù)據(jù)
更新時(shí)間:2025-07-09
美國(guó)MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀
美國(guó)mas高分辨納米粒度zeta電位分析儀粒子分餾的真的 psd 數(shù)據(jù)。無(wú)需對(duì)粒徑分布的形狀進(jìn)行假設(shè)。精確非均勻樣品分析—包括納 米顆!?dú)w功于其與顆粒密度無(wú)關(guān)的分析。自動(dòng)/無(wú)人操作。所有組件都在一個(gè)簡(jiǎn)易單一窗口界面控制和操作。
更新時(shí)間:2025-07-09
美國(guó)MAS粒度Zeta電位分析儀
美國(guó)mas粒度zeta電位分析儀可以測(cè)試:粒徑、zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。對(duì)于高達(dá)60%(體積)濃度的樣品,也無(wú)需進(jìn)行稀釋或樣品處理,即可直接測(cè)量甚至對(duì)于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可直接進(jìn)行測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-07-09
電聲法Zeta電位分析儀
dt300/310粒度和zeta電位分析儀器采用多頻電聲學(xué)測(cè)量技術(shù)測(cè)量膠體體系的zeta 電位。對(duì)于高達(dá)50%(體積)濃度的樣品,無(wú)需進(jìn)行樣品稀釋或前處理即可直接測(cè)量。甚至對(duì)于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可用其直接進(jìn)行測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-07-09
電聲電振法通用型zeta電位分析儀
包含dt-300的功能,能夠用于幾乎所有類型的多相異構(gòu)系統(tǒng),,包括顆粒、沉積物和多孔材料
更新時(shí)間:2025-07-09
篩網(wǎng)校準(zhǔn)檢測(cè)分析儀
歐奇奧 sievecal篩網(wǎng)校準(zhǔn)檢測(cè)儀通過(guò)全計(jì)算機(jī)控制的標(biāo)準(zhǔn)操作程序(sop)提供篩網(wǎng)表面的一個(gè)完整掃描?焖俑叻直婀I(yè)相機(jī), 結(jié)合遠(yuǎn)心鏡頭和平行背光可在篩網(wǎng)旋轉(zhuǎn)和轉(zhuǎn)換中獲得圖像。軟件實(shí)時(shí)計(jì)算網(wǎng)孔大小和絲徑粗細(xì)。檢測(cè)結(jié)束后,將檢測(cè)報(bào)告打印或存儲(chǔ)在電腦中
更新時(shí)間:2025-07-09
Zeta電位測(cè)定儀
zeta電位測(cè)定儀zetacad:是專門用多孔塞技術(shù)直接測(cè)定流動(dòng)電位/流動(dòng)電流的zeta電位分析儀。該技術(shù)適用于50μm以上的大顆粒、纖維和平坦的表面,或在一個(gè)壓力梯度下電解質(zhì)可以透過(guò)的曲面膜或中空纖維樣品。
更新時(shí)間:2025-07-09
表面Zeta電位分析儀
zeta cad表面zeta電位分析儀是專門用多孔塞技術(shù)直接測(cè)定流動(dòng)電位/流動(dòng)電流的zeta電位分析儀。該技術(shù)適用于50μm以上的大顆粒、纖維和平坦的表面,或在一個(gè)壓力梯度下電解質(zhì)可以透過(guò)的曲面膜或中空纖維樣品。
更新時(shí)間:2025-07-09
膜表面Zeta電位分析儀
膜zeta電位分析儀是門用多孔塞技術(shù)直接測(cè)定流動(dòng)電位/流動(dòng)電流的zeta電位分析儀,該技術(shù)適用于50µm以上的大顆粒、纖維和平坦的表面,或在一個(gè)壓力梯度下電解質(zhì)可以透過(guò)的曲面膜或中空纖維樣品
更新時(shí)間:2025-07-09
納米粒度及Zeta電位分析儀
litesizer™ 500 納米粒度及zeta電位分析儀是用于表征分散型樣品和溶液中納米顆粒以及微顆粒的儀器。它可通過(guò)測(cè)量動(dòng)態(tài)光散射 (dls)、電泳光散射 (els) 和靜態(tài)光散射 (sls) 來(lái)測(cè)定顆粒尺寸、zeta電位和分子質(zhì)量。
更新時(shí)間:2025-07-09
圖像法Zeta電位分析儀
zetacompact®圖像法zeta電位分析儀采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案,在垂直平面內(nèi)測(cè)量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布。
更新時(shí)間:2025-07-09
顯微電泳法Zeta電位分析儀
密度高或粒徑大的顆粒會(huì)沉積在測(cè)量室底部。顯微電泳法zeta電位分析儀采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案,在垂直平面內(nèi)測(cè)量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布。
更新時(shí)間:2025-07-09
固體表面Zeta電位分析儀
zetacad固體表面zeta電位分析儀是直接測(cè)定流動(dòng)電位/流動(dòng)電流的zeta電位分析儀,幫助科研人眼在化學(xué)于材料科科學(xué)領(lǐng)域內(nèi)改善和調(diào)整表面特征。適用于沉積的大顆粒、纖維、和平坦的表面,或在一個(gè)壓力梯度下電解液科研透過(guò)的曲面膠或中空纖維樣品,包括聚合物、紡織、陶瓷、玻璃等,對(duì)不同形狀和尺寸的固體及粉末材料均適用。
更新時(shí)間:2025-07-09
液體介電常數(shù)測(cè)定儀
液體介電常數(shù)測(cè)定儀是從純水到非極性有機(jī)溶劑的介電常數(shù)測(cè)定,英文名:liquid dielectric constant meter,操作極其簡(jiǎn)單,只要將電極插入液體,并調(diào)節(jié)前面板上的兩個(gè)控制鈕, 即可讀出所顯示的介電常數(shù)值。
更新時(shí)間:2025-07-09
電聲法孔隙率及Zeta電位分析儀
電聲法孔隙率及zeta電位分析儀基于電聲學(xué)原理,幾乎能夠應(yīng)用于所有類型的多相異構(gòu)系統(tǒng),包括固體顆粒物、沉積物、多孔材料等?紫抖鹊臏y(cè)量是基于我們的高頻電導(dǎo)探頭。包括巨石、地核、瓷磚、cmp漿料,納米分散體系、陶瓷漿料,電池漿料,水泥家族,藥物乳劑等
更新時(shí)間:2025-07-09
高濃體系Zeta電位測(cè)定儀
高濃體系z(mì)eta電位分析儀基于電聲法原理,利用超聲波在含有顆粒的連續(xù)相中傳播時(shí),聲與顆粒的相互作用產(chǎn)生的聲吸收、耗散和散射所引起的損失效應(yīng)來(lái)測(cè)量顆粒。無(wú)需進(jìn)行樣品稀釋或前處理即可直接測(cè)量,包括cmp漿料,納米分散體系、陶瓷漿料,電池漿料,水泥,化妝品、藥物乳劑等
更新時(shí)間:2025-07-09
納米粒度和Zeta電位分析儀
高分辨率納米粒度和zeta電位分析儀 基于動(dòng)態(tài)光散射(dls)和激光多普勒電泳(lde)技術(shù),可提供高分辨率,準(zhǔn)確和快速的粒度和zeta電位測(cè)試及原位測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-07-09
便攜式PH/ORP檢測(cè)儀, pH、氧化還原電位測(cè)量?jī)x
便攜式ph/orp檢測(cè)儀, ph、氧化還原電位測(cè)量?jī)x 型號(hào)bxs01-ph 物理儀器->粉體設(shè)備->zeta電位儀 配以合適的電,能夠測(cè)量ph、氧化還原電位 操作簡(jiǎn)單,使用方便
更新時(shí)間:2025-07-09
Nicomp Z3000 納米粒徑與Zeta電位分析儀
nicomp380 z3000 亞微米粒徑電位檢測(cè)儀采用先進(jìn)的設(shè)計(jì)理念優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),充分有效地融合了動(dòng)態(tài)光散射(dls)和電泳光散射(els)技術(shù),即可以多角度檢測(cè)分析液態(tài)納米顆粒系的粒度及粒度分布,又可以小角度測(cè)量zeta電位。粒度測(cè)試范圍:0.3 nm – 10μm。
更新時(shí)間:2025-06-26

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