光學(xué)測量儀產(chǎn)品及廠家

德國ThetaMetrisis FR-Pro 膜厚測量儀

fr-pro 膜厚測量儀用于表征1nm-3mm厚度范圍內(nèi)的涂層的模塊化和可擴(kuò)展平臺(tái)。

更新時(shí)間:2025-07-06

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德國ThetaMetrisis FR-Mini 膜厚測量儀

fr-mini 是一款緊湊型裝置，專為大學(xué)教育和研究實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)，用于快速、準(zhǔn)確和無損地表征各種不同的涂層。使用 fr-mini，用戶還可以在較寬的光譜范圍內(nèi)輕松進(jìn)行反射率和/或透射率測量。

更新時(shí)間:2025-07-06

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R1德國Optosol 涂層吸收率發(fā)射率檢測儀

德國optosol r1 涂層吸收率發(fā)射率檢測儀，用于測量管狀或平面太陽能吸收涂層的定向熱發(fā)射度，其基礎(chǔ)是測量來自擴(kuò)展熱源的紅外輻射的反射率操作溫度:70 - 90°c

更新時(shí)間:2025-07-05

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K3德Optosol太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀

德optosol-k3 太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀，k3型發(fā)射率檢測儀由一個(gè)被加熱到70℃的發(fā)光體（作為熱輻射源）和三個(gè)對波長在8-14μm范圍的光線敏感的探測器組成。來自發(fā)光體的輻射均勻分布在用作漫射輻射源的積分球內(nèi)。檢測器以與樣品表面法線成12°的角度安裝。被測量的是由樣品反射回來的輻射。

更新時(shí)間:2025-07-05

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Absorber Control K1德國Optosol 太陽能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測量儀

optosol absorber control k1 太陽能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測量儀，

更新時(shí)間:2025-07-05

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TriSOL AAA美國OAI標(biāo)準(zhǔn)太陽能模擬器

trisol aaa美國oai標(biāo)準(zhǔn)太陽能模擬器，低成本，標(biāo)準(zhǔn)太陽模擬器提供高度準(zhǔn)直，均勻的光，幾乎任何材料或產(chǎn)品暴露在陽光下長時(shí)間或短時(shí)間的基本測試。根據(jù)配置，這些太陽能模擬器的輸出功率為350w-5,000w。

更新時(shí)間:2025-07-05

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TSS-52,TSS-100,TSS-156,TSS-208,TSS-300美國OAI太陽能模擬器

tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美國oai太陽能模擬器，這些模擬器,取決于配置、輸出額定350 w -5000 w。oai 3 a太陽模擬器可以提供一個(gè)范圍的空氣質(zhì)量過濾器復(fù)制太陽能模擬太陽的光譜。目的探明oai透鏡和鏡像技術(shù)可以使一個(gè)廣泛的接觸區(qū)域。

更新時(shí)間:2025-07-05

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AE1/RD1美國 D&S 發(fā)射率測量儀

美國 d&s 發(fā)射率測量儀 ae1/rd1，是專門針對測量物體的輻射率設(shè)計(jì)的，ae1測量樣品最小直徑為2.25英寸（5.7cm）�？蛇x附件ae-ad1和ae-ad3探測頭能使測量樣品最小直徑為1.0英（2.54cm），可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對小直徑圓柱形面樣品測量，可以測量平行放置的多個(gè)樣品。

更新時(shí)間:2025-07-05

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AutoWafe Pro.美國SONIX 晶圓檢測設(shè)備

美國sonix 晶圓檢測設(shè)備 autowafe pro.為全自動(dòng)晶圓檢測設(shè)計(jì)的機(jī)型，主要應(yīng)用在bond wafer，mems 內(nèi)部空洞、離層檢測，tsv量測方面。

更新時(shí)間:2025-07-05

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4200A-SCS美國泰克TEK Keithley半導(dǎo)體參數(shù)分析儀

美國泰克tek keithley半導(dǎo)體參數(shù)分析儀4200a-scs ，加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。業(yè)內(nèi)領(lǐng)先性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (i-v)、電容-電壓 (c-v) 和超快脈沖 i-v 測量。

更新時(shí)間:2025-07-05

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CoreAFM瑞士Nanosurf 原子力顯微鏡

瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ，非常智能地聯(lián)合了原子力顯微鏡的核心部件來實(shí)現(xiàn)最多功能化與用戶方便使用性. 正是由于這種基礎(chǔ)的設(shè)計(jì), coreafm非常合理的實(shí)現(xiàn)了最優(yōu)化的原子力顯微鏡的功能.

更新時(shí)間:2025-07-05

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HMS3000，HMS5000韓國Ecopia霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)

韓國ecopia霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)hms3000，hms5000，用于研究半導(dǎo)體材料/光電材料的電學(xué)特性，可以測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。

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H5000美國 MMR 霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)

美國 mmr 霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng) h5000，用于研究光電材料的電學(xué)特性，利用范德堡測量技術(shù)測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。整套系統(tǒng)主要包括控制器、樣品室、磁場三部分。

更新時(shí)間:2025-07-05

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KUP007，EMP100C，EMP100B，EMP50S半導(dǎo)體測試探針臺(tái)

半導(dǎo)體測試探針臺(tái)kup007，emp100c，emp100b，emp50s

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SCALA德國Mecwins 掃描式激光分析儀

德國mecwins 掃描式激光分析儀scala，它是用激光入射掃描樣品表面，收集反射信號(hào)得到樣品表面的三維形貌和特征。

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FTPadv臺(tái)式薄膜探針反射儀

ftpadv 臺(tái)式薄膜探針反射儀臺(tái)式薄膜探針反射儀ftpadv，ftpadv是一種具有成本效益的臺(tái)式反射膜厚儀解決方案，它具有非常快速的厚度測量。在100毫秒以內(nèi)進(jìn)行測量，其精度低于0.3nm，膜厚范圍在50 nm -25 μm。為了便于分光反射測量操作，該儀器包括了范圍廣泛的預(yù)定配方。

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FTPadv Expert綜合薄膜測量軟件

ftpadv expert 綜合薄膜測量軟件，光譜反射測量軟件ftpadv expert是專門為測量和分析r(λ)和t(λ)而設(shè)計(jì)的。用于確定各種材料的薄膜厚度、消光系數(shù)或折射率的光譜數(shù)據(jù)分析，這些參數(shù)都被加載到sentech光譜反射測量軟件中，使得能夠根據(jù)cauchy色散、drude振蕩給出的參數(shù)描述和擬合材料。

更新時(shí)間:2025-07-05

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MDPinline光伏測量儀器

mdpinline 光伏測量儀器，一秒內(nèi)完成正片晶片掃描。mdpinline是為高速自動(dòng)掃描硅晶片而設(shè)計(jì)的，它以每片不到一秒的時(shí)間記錄少子壽命的全部形貌。利用微波檢測光電導(dǎo)率定量測量少子壽命。憑借其緊湊的設(shè)計(jì)，mdpinline可以靈活地集成在傳送帶上或晶片分選系統(tǒng)中。

更新時(shí)間:2025-07-05

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mdpinline ingot 光伏測量儀器，多晶形貌少子壽命測量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設(shè)計(jì)的。對于一個(gè)面，以1毫米的分辨率，無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費(fèi)不到一分鐘。電阻率和導(dǎo)電類型變化的自動(dòng)掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測爐子性能。面可以自動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)，以便測量所有的四個(gè)側(cè)面。

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MDPinlinescan在線壽命和電阻率逐行掃描儀

更新時(shí)間:2025-07-05

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MDPpro德國Sentech激動(dòng)掃描系統(tǒng)

德國sentech激動(dòng)掃描系統(tǒng)mdppro,少子壽命測量儀器的特征在于以1mm分辨率對500mm的一個(gè)面在不到4分鐘內(nèi)完成掃描。電阻率和少子壽命的測量完全無觸摸。利用微波檢測光電導(dǎo)率(mdp)同時(shí)測量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和p/n導(dǎo)電類型的變化。

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SenSol自動(dòng)掃描薄膜測量儀器

sensol是sentech光伏產(chǎn)品組合中的自動(dòng)大面積掃描儀器。自動(dòng)表征膜厚、薄層電阻、霧度、反射和透射的均勻性。使用sensol，可以監(jiān)測大型玻璃基板上的沉積過程的均勻性，從而可以顯著減少儀器維護(hù)后重新開始生產(chǎn)的時(shí)間。

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SENperc PV德國Sentech光伏測量儀

senperc pv 是perc電池制造質(zhì)量控制的創(chuàng)新解決方案。senperc pv 測量al2o3/sinx堆疊層和用于鈍化perc電池的單層膜。監(jiān)測沉積過程的穩(wěn)定性。由此，可以優(yōu)化維護(hù)時(shí)間間隔。

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MDPspot德國Sentech光伏測量儀器

德國sentech光伏測量儀器mdpspot，具有成本效益的臺(tái)式少子壽命測試儀mdpspot可用于表征晶片或面。它為少子壽命測量提供了一個(gè)測量點(diǎn)。低成本桌面式壽命測量系統(tǒng)，用于手動(dòng)操作表征不同制備階段的各種不同硅樣品�？蛇x的手動(dòng)操作z軸用于厚度多達(dá)156毫米的樣品。標(biāo)準(zhǔn)軟件可輸出可視化的測量結(jié)果。

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RT Inline薄膜反射和透射的在線監(jiān)測系統(tǒng)

薄膜反射和透射的在線監(jiān)測系統(tǒng) rt inline 反射率、透射率和膜厚的高速在線測量是rt inline的設(shè)計(jì)特點(diǎn)。傳感器頭陣列掃描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射，作為內(nèi)部參考測量。利用ftpadv expert軟件可以方便地進(jìn)行層沉積過程的在線監(jiān)測。軟件接口可用于與主機(jī)的數(shù)據(jù)通信。

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RTMALD實(shí)時(shí)監(jiān)測儀

sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測儀是一種新型的光學(xué)診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率，厚度，折射率)，在短時(shí)間內(nèi)開發(fā)新工藝、實(shí)時(shí)研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機(jī)理是sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測儀的主要應(yīng)用。

更新時(shí)間:2025-07-05

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NS550A眼鏡鏡片光學(xué)透過率儀

ns550a眼鏡鏡片光學(xué)透過率儀的測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示。

更新時(shí)間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市納森科技有限公司

NS365多波段透過率測試儀

ns365多波段透過率測試儀的測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示

更新時(shí)間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市納森科技有限公司

NS500中空玻璃測厚儀

ns500中空玻璃測厚儀專用于測量單層玻璃，夾層玻璃（中空玻璃）和柱型玻璃管等的厚度。尤其適用于普通刻度尺或卡尺不能或不易操作的測量場合，如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃窗厚度的測量。對于中空玻璃厚度的測量，同時(shí)測得各層玻璃及中間空氣層的厚度。

更新時(shí)間:2025-07-05

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NS550A臺(tái)式透光率儀

ns550a臺(tái)式透光率儀測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示。

更新時(shí)間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市納森科技有限公司

NS12高精度透過率測試儀

ns12高精度透過率測試儀的測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示。

更新時(shí)間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市納森科技有限公司

NS10A防爆膜測試儀

ns10a防爆膜測試儀的測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示。

更新時(shí)間:2025-07-05

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NS13A光學(xué)透過率測量儀

ns13a光學(xué)透過率測量儀的測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示。

更新時(shí)間:2025-07-05

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NS550IR油墨透光率儀

ns550ir油墨透光率儀的測試原理是采用紅外850nm光源，紅外940nm光源和可見550nm光源照射被測透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。

更新時(shí)間:2025-07-05

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NS11太陽膜透過率測試儀

ns11太陽膜透過率測試儀的測試原理是采用紫外光源，可見光源和紅外光源照射被測透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示。

更新時(shí)間:2025-07-05

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NS530A汽車前擋玻璃透光率儀

ns530a汽車前擋玻璃透光率儀具有的三個(gè)獨(dú)立測試單元分別為紫外，紅外，和可見光，顯示值為紅外透過率值，紫外透過率值和可見光透過率值。

更新時(shí)間:2025-07-05

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NS101汽車太陽膜透光率測試儀高精度防爆膜測試儀建筑膜檢測儀器

ns101汽車太陽膜透光率測試儀高精度防爆膜測試儀建筑膜檢測儀器的測試原理是采用紫外光源,可見光源和紅外光源照射被測透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。大多數(shù)的太陽膜,可見光標(biāo)注透過率指標(biāo),紅外線和紫外線標(biāo)注阻隔率指標(biāo),阻隔率=100%-透過率。ns101直接測量和顯示紫外線的阻隔率,紅外線的阻隔率和可見光透過率,

更新時(shí)間:2025-07-05

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NS530A汽車前檔貼膜透光率測試儀

ns530a汽車前檔貼膜透光率測試儀具有三個(gè)獨(dú)立測試單元分別為紫外，紅外，和可見光，顯示值為紅外透過率值，紫外透過率值和可見光透過率值。

更新時(shí)間:2025-07-05

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NS13A卡式便攜式透光率儀

ns13a卡式便攜式透光率儀，透光率測試儀，透光率檢測儀，透光率計(jì)，透過率測試儀，玻璃透光率儀，鏡片透光率測試儀，眼鏡片透光率儀，透明材料透光率儀，涂料透光率儀，太陽鏡片透光率測試儀

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NS550H臺(tái)式光學(xué)透過率測試儀

ns550h臺(tái)式光學(xué)透過率測試儀測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示。

更新時(shí)間:2025-07-05

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NS15A便攜式透光率儀

ns15a透光率儀是一款寬譜線可見光(380nm～760nm)測量儀，測試原理是采用三路完全相同的可見光源照射被測透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測三路光源的入射光強(qiáng)和透過被測透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示。

更新時(shí)間:2025-07-05

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NS-500中空玻璃空氣層厚度測量儀

ns500中空玻璃空氣層厚度測量儀測試原理是利用光學(xué)反射原理，可在玻璃的單側(cè)表面測量玻璃厚度，尤其適用于通用測量工具如刻度尺或卡尺等不能或不易操作的測量場合，如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃（中空玻璃）窗厚度的測量。對于空氣夾層玻璃的測量，還可以同時(shí)獲得兩層玻璃及中間空氣層的厚度。

更新時(shí)間:2025-07-05

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HS1000美國NANOVEA三維表面形貌儀

美國nanovea三維表面形貌儀hs1000型，是一款高速的三維形貌儀，最高掃描速度可達(dá)1m/s,采用國際領(lǐng)先的白光共聚焦技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級(jí)的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn)，該儀器可用于測量大尺寸樣品或質(zhì)檢現(xiàn)場使用。

更新時(shí)間:2025-07-05

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Y.Cougar SMT， Y.Cheetah德國YXLON 高分辨率Ｘ射線檢測設(shè)備

德國 yxlon 高分辨率ｘ射線檢測設(shè)備 y.cougar smt 平板探測器（標(biāo)配） y.cheetah 高速平板探測器（標(biāo)配）

更新時(shí)間:2025-07-05

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Die Pick & Place Systems美國Royec芯片拾取及放置系統(tǒng)

美國royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動(dòng)芯片分選系統(tǒng)

更新時(shí)間:2025-07-05

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DE35-ST美國Royec半自動(dòng)型芯片拾取系統(tǒng)

美國royec半自動(dòng)型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面，側(cè)面檢測,可選配芯片轉(zhuǎn)向功能.

更新時(shí)間:2025-07-05

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MT Century Curve Tracer美國RTI自動(dòng)特性圖示儀

美國rti自動(dòng)特性圖示儀 mt century curve tracer，是一個(gè)性價(jià)比較高的曲線追蹤設(shè)備。最多到96個(gè)channel，提供4種型號(hào)可供客戶選擇，mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性，功率和軟件。像其他rti機(jī)型一樣，mt century系統(tǒng)的設(shè)計(jì)有與950系列的測試夾具及其它專用夾具連接的接口。

更新時(shí)間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

3D Nanofinger德國Klocke Nanotech 3D納米級(jí)三維測量儀

德國klocke nanotech納米級(jí)三維測量儀3d nanofinger，是一種實(shí)用的納米精度坐標(biāo)和形貌綜合測量設(shè)備。由臺(tái)架、控制系統(tǒng)、探頭、針尖組成. 可測量樣品外形尺寸，表面輪廓、粗糙度等，并可與超精密微加工、微組裝系統(tǒng)組合，進(jìn)行在線檢測、質(zhì)量控制等。

更新時(shí)間:2025-07-05

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